光波动场三维显微镜

光波动场三维显微镜MINUK

MINUK光波动场三维显微镜

MINUK是日本大塚电子2024年发布的面向透明/半透纳材料纳米级检测的光波动场三维显微镜。不仅可以评估纳米量级的透明异物和缺陷，单次获取高度方向的信息，并且可以无损、非接触、非侵入性地进行测量。另外，还可以高速扫描任何表面并确定测量位置，而无需对焦。

MINUK所使用的观察方法为大塚所独创。通过向测量对象物照射激光，而对象物的厚度和折射率会发生变化，进而导致波面变化，针对这种变化，使用波前传感器其进行捕捉，而后使用独创的软件进行数值解析，再现图像。通过这一设备，使用者可瞬时获取1400微米深度方向的对焦信息，在对此信息进行数码重新对焦后，可进行三维构造的追加验证。同时，在获取数据后，设备可在之后通过软件在任意的深度和位置进行重新对焦。700微米×700微米的宽广视野，可捕捉到小于0.5微米的线的宽度，实现高分辨率，且由于光学系未使用透镜，因此成像无失真和像差。--

光波动场三维显微镜产品特点

• 可评价纳米级的透明异物、缺陷、伤痕的大小、厚度、形状。

•  一次拍照即可瞬时获取深度方向的信息。

• 无需对焦，可高速测量。

• 可非破坏、非接触、非侵入的测量。

• 可在任意的面进行高速扫描，轻松决定测量位置。

光波动场三维显微镜技术特点

大视野·高速测量·透明可视化

以往显微镜与MINUK比较

多种模式可选

光波动场三维显微镜应用实例

光波动场三维显微镜产品参数

光波动场三维显微镜信息由上海昊量光电设备有限公司为您提供，如您想了解更多关于光波动场三维显微镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。