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大功率元素价态分析X射线发射谱仪
参考价：面议
品牌：理学 产地：日本 型号：XES Chimica 样本：来电或留言获取样本
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参数
| 产地类别：进口 | 供应商性质：生产商 | X射线光源功率：端窗型X射线管，Rh靶材,4 kW |
产品介绍
X射线发射光谱法(X-ray Emission Spectroscopy,XES)是一种能够对分析元素的化学状态进行定量分析的方法。
通过分析光谱的化学位移和谱线变化，可以分析元素的价数和化合物状态。
| 参数： | |
| 元素分析范围：O～U | 宽浓度范围:0.1%~100% |
| 样品分析面积:20,10 mm | 样品测试深度:1到1000um |
| 扫描范围（2θ）:40-148° | 光路气氛:真空 |
| 检测步长:0.0001-0.05°/step | |
此方法可以进行不局限于表面或微小部位的整体分析，同时高X射线强度可以得到优越的定量性能，
由此提供与传统方法不同的状态分析方法。
在不使用同步辐射光源的情况下，XES可以在实验室环境中高精度地评估分析材料的化学状态。
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