安徽国科仪器科技有限公司
400-6699-117 转 7399
分析测试百科网认证,请放心拨打
若未完成电话咨询,您可提交留言咨询,厂商主动联系您

点击提交代表您同意《用户服务协议》 和 《隐私政策》

当前位置:分析测试百科网 仪器谱 X射线吸收精细结构谱仪XAFS SmartXAFS X射线吸收精细结构谱仪

精选 SmartXAFS X射线吸收精细结构谱仪

SmartXAFS X射线吸收精细结构谱仪封面图
SmartXAFS X射线吸收精细结构谱仪
  • SmartXAFS X射线吸收精细结构谱仪
< >
参考价:面议
品牌与制造商:国科仪器 产地:中国 型号:SmartXAFS 官方样本下载:来电或留言获取样本 数据更新时间:2026-02-06
AI Agent
  • SmartXAFS X射线吸收精细结构谱仪价格?
  • SmartXAFS X射线吸收精细结构谱仪可以做哪些实验?
  • SmartXAFS X射线吸收精细结构谱仪参数?
  • SmartXAFS X射线吸收精细结构谱仪配套的耗材试剂?
  • SmartXAFS X射线吸收精细结构谱仪操作规程?
  • SmartXAFS X射线吸收精细结构谱仪使用注意事项?
白银会员 第3年 分析测试百科网认证
电话 400-6699-117转7399
产品官方概述

SmartXAFS X 射线吸收精细结构谱仪,采用固定X射线源的独特设计,移动晶体和探测器获取数据。

以下内容综合自国科仪器官方技术规格及公开资料信息
官方技术参数
产地与供应商:国产 生产商 价格范围:200万-300万


XAFS 能量范围
4.5 - 18 keV(Mo);4.5 - 20 keV(Ag);4.5 - 22 keV(Pd);4.5 - 50 keV(液态金属靶)
能量分辨率≤ 0.5 - 1.5 eV
XAFS 模式性≤ 30 meV 能量尺度漂移
光源系统

支持各种不同靶材
高压最大可达 60 kV,电流最大 40 mA;功率≥ 2.2 kW

单色器高纯 Si/Ge 晶体
布拉格角度范围55 - 85°
探测器高精度 SDD 硅漂移探测器
样品台
10 位样品轮批量自动测试