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SmartXAFS X 射线吸收精细结构谱仪,采用固定X射线源的独特设计,移动晶体和探测器获取数据。
| 产地与供应商:国产 生产商 | 价格范围:200万-300万 |
| XAFS 能量范围 | 4.5 - 18 keV(Mo);4.5 - 20 keV(Ag);4.5 - 22 keV(Pd);4.5 - 50 keV(液态金属靶) | |||
| 能量分辨率 | ≤ 0.5 - 1.5 eV | |||
| XAFS 模式性 | ≤ 30 meV 能量尺度漂移 | |||
| 光源系统 | 支持各种不同靶材 | |||
| 单色器 | 高纯 Si/Ge 晶体 | |||
| 布拉格角度范围 | 55 - 85° | |||
| 探测器 | 高精度 SDD 硅漂移探测器 | |||
| 样品台 | 10 位样品轮批量自动测试 | |||