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精选 SmartXAFS X射线吸收精细结构谱仪
参考价：面议
品牌：国科仪器 产地：中国 型号：SmartXAFS 样本：来电或留言获取样本
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参数
| 产地类别：国产 | 供应商性质：生产商 | 价格范围：200万-300万 |
| XAFS 能量范围 | 4.5 - 18 keV（Mo）；4.5 - 20 keV（Ag）；4.5 - 22 keV（Pd）；4.5 - 50 keV（液态金属靶） | |||
| 能量分辨率 | ≤ 0.5 - 1.5 eV | |||
| XAFS 模式性 | ≤ 30 meV 能量尺度漂移 | |||
| 光源系统 | 支持各种不同靶材 | |||
| 单色器 | 高纯 Si/Ge 晶体 | |||
| 布拉格角度范围 | 55 - 85° | |||
| 探测器 | 高精度 SDD 硅漂移探测器 | |||
| 样品台 | 10 位样品轮批量自动测试 | |||
产品介绍
产品概述：
SmartXAFS X 射线吸收精细结构谱仪，采用固定X射线源的独特设计，移动晶体和探测器获取数据。XAFS对中心吸收原子的局域结构（尤其是在0.1nm范围内）及其化学环境十分敏感，可以在原子尺度上给出某一特征原子周围几个近邻配位壳层的结构信息。
产品优势：
◆ 无需同步辐射光源实现在实验室内的高质量样品测试
◆ 三轴悬浮式晶体姿态自动调节
◆ 具有原位拓展性
◆ 透射模式XAFS，可拓展XES模式
◆ 独特能量扫描机构，可实现一个光源，多种实验方法联用，如XRD，SAXS，PDF等
SmartXAFS X射线吸收精细结构谱仪信息由安徽国科仪器科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于SmartXAFS X射线吸收精细结构谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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