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台式X射线吸收精细结构谱仪
参考价：￥300万起
历史价格
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品牌：创谱科技 产地：安徽合肥 型号：TableXAFS-500A 样本：来电或留言获取样本
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参数
| X射线光源功率：1.2~2.0 kW X射线光管，靶材可订制 | 单色X射线光通量：光通量样品处≥3000000光子数/秒 (7~9 keV能点) | 可测试元素X射线吸收能量范围：4.5～20 keV |
产品介绍
XAFS主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、配位数、位形与键长。
XAFS主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、配位数、位形与键长。
产品介绍 Product Introduction
TableXAFS-500谱仪系统采用罗兰圆结构和大尺寸弯晶元件，利用常规X光源实现X射线吸收结构的光谱测量，在实验室即可助您畅享“想测就测、随时可测”的XAFS自由。
产品特点 Features
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主要参数 Parameters
| 探测器 | SDD探测器 |
| X射线光源 | 1.2~2.0 kW X射线光管，靶材可订制 |
| 光通量 | ≥ 3×106 photons/sec @7~9keV |
| 能量范围 | 4.5~20keV |
| 单色器晶体 | 口径102mm，半径500mm球面Si或Ge弯晶 |
应用领域 Application
测试数据 Test Data
台式X射线吸收精细结构谱仪信息由安徽创谱科技股份有限公司为您提供，如您想了解更多关于台式X射线吸收精细结构谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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