通达-X射线吸收精细结构谱仪 (XAFS)

技术参数：

核心优势：

最高光通量产品

光子通量高于4,000,000光子/秒/eV，采谱效率数倍于其他产品；获得和同步辐射一样的数据质量

优异的稳定性

光源单色光强度稳定性优于0.1%，重复采集能量漂移 < 50 meV

1%探测极限

高光通量、优异的光路优化和极好的光源稳定性确保所测元素含量>1%时依旧获得高质量EXAFS数据 

仪器原理：

X射线吸收精细结构谱仪 (X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。

Mn数据，Mn K-edge XAFS数据，数据与同步辐射光源一致

Fe样品Kβ发射谱数据：core to core XES 和 valence to core XES

测试数据：

Foil EXAFS数据

可测元素：绿色部分可测K边，黄色部分可测L边

应用领域：

工业催化、储能材料、纳米材料、环境毒理、也质分析、重元素分析等

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