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多端口光器件IL、PDL波长扫描快速测试系统
参考价：面议
品牌：昊量光电 产地：上海 型号：IL、PDL 样本：来电或留言获取样本
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产品介绍
一.多端口光器件IL、PDL波长扫描快速测试系统产品概述
波长扫描快速测试系统由可调谐激光源、高速光功率计平台组成，配合集成了相关算法的上位机软件，可以快速完成光器件不同波长下的 IL（插入损耗）、PDL（偏振相关损耗）、ILavg（平均插入损耗）测试。该系统可广泛应用于密集波分复用模块（DWDM）、波长选择开关（WSS）和集成光芯片的研发、生产和测试。
二.多端口光器件IL、PDL波长扫描快速测试系统产品特点
体积小、集成度高，系统只需两台仪器便可完成所有测量
精度高，速度快
分辨率：0.1pm
IL 重复性：±0.02dB
PDL 重复性：±0.01dB
IL 测量时间：≤3s（波长范围 100nm，扫描速度 50nm/s）
PDL 测量时间：≤12s（波长范围 100nm，扫描速度 50nm/s）
扩展性高，机框支持级联，通道数 N≥144
支持使用动态链接库（DLL）开发定制软件
三.多端口光器件IL、PDL波长扫描快速测试系统技术规范
| 扫描速度 | nm/s | 1-200 |
| IL 测量范围 | dB | 70 |
| IL 测量时间 | sec | 3（波长范围 100nm，扫描速度 50nm/s） |
| PDL 测量时间 | sec | 12（波长范围 100nm，扫描速度 50nm/s） |
| ILavg 测量时间 | sec | 6（波长范围 100nm，扫描速度 50nm/s） |
| 分辨率 | pm | 0.1 |
| IL 准确度（典型值） | dB | ±0.02（IL 在 0-40 dB） |
| ±0.05（IL 在 40-50 dB） | ||
| ±0.5（IL 在 50-65 dB） | ||
| ±1.0（IL 在 65-70 dB） | ||
| IL 重复性（典型值） | dB | ±0.02 |
| IL 分辨率 | dB | 0.001 |
| PDL 精度（典型值） | dB | ±(0.02 + 3％ of PDL) |
| PDL 重复性（典型值） | dB | ±0.01 |
| PDL 动态范围（典型值） | dB | 25 |
| PDL 分辨率 | dB | 0.001 |
| 通信 | - | 网口 |
环境适应性：以上所有指标均在(23±5)℃，60%RH 以下环境下，使用高精度测试完成。
四.多端口光器件IL、PDL波长扫描快速测试系统典型应用
IL 测量接线示意图 普通测试：光源输出不经过分束模块。
高精度测试：光源输出经过分束模块。分束模块参考接口接光功率计参考通道，分束模 块输出接口接待测件输入。
PDL/ILavg 测量接线示意图 普通测试：偏振发生器输出不经过分束模块。
高精度测试：偏振发生器输出经过分束模块。分束模块参考接口接光功率计参考通道， 分束模块输出接口接待测件输入。
五.多端口光器件IL、PDL波长扫描快速测试系统操作界面
六.多端口光器件IL、PDL波长扫描快速测试系统订货信息
| 名称 | 说明 |
| 可调谐光源 | CL波段 |
| O波段 | |
| 高速光功率计平台 | 槽位数 5 个 |
| 光功率计模块 | -70dB-+5dB |
| 一个模拟输出口（SMA） | |
| 偏振态发生器模块 | CL 波段 |
| O 波段 | |
| 分束模块 | 光接口 FC/UPC |
| 光接口 FC/APC |
多端口光器件IL、PDL波长扫描快速测试系统信息由上海昊量光电设备有限公司为您提供，如您想了解更多关于多端口光器件IL、PDL波长扫描快速测试系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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