光电测试系统：DSR600单光子探测器的光子探测效率标定系统

DSR600-PDE单光子探测器的光子探测效率标定系统介绍

本系统主要用来测试和评估具有单光子灵敏度的光子计数器/ 探测器的光子探测效率（Photon Detection Efficiency，PDE）。本系统的原理是，稳恒宽带光源经过单色仪分光后输出的单色光进入积分球，积分球将光匀化后通过两个出口分别照射至大光敏面积的标准（定标后的）探测器和待测光子计数器。通过标准探测器定标出入射光功率，并换算出单位时间内照射至标准探测器的光子数，再根据标准探测器与待测光子计数器的面积比例，推算出照射到待测光子探测器光敏区的光子数。同时测量单位时间内待测探测器探测到的光子数（即电脉冲的数量），除以照射到待测光子探测器的光子数，即为PDE。通过改变单色仪的输出波长，即可测量不同波长下光子探测器的PDE，进而画出PDE 随波长的变化曲线。 通过PDE 随波长的变化曲线，可以获得待测光子探测器的光谱响应范围、PDE 峰值波长、PDE 峰值等关键信息。

适用范围：

■ 盖革雪崩光电二极管（G-APD）；

■ 单光子雪崩光电二极管（SPAD）；

■ 光子计数模式的高增益PMT；

■ 硅光电倍增管（SiPM）；

■ 多像素光子计数器（MPPC）；

■ 超导单光子探测器。

系统功能 ：

■ 全光谱光子探测效率（Photon Detection Efficiency，PDE）

■ 全光谱光谱响应度（Spectral Responsivity，SR）

■ 全光谱外量子效率（External Quantum Efficiency，EQE）

DSR600-PDE单光子探测器的光子探测效率标定系统
产品特点：

■ 以相对较低的成本，实现待测光子探测器的PDE的快速标定或评估。

■ 通过切换光源，可以实现不同波段灵敏的光子探测器/光子计数器的PDE的标定。

配置参数：更多配置说明咨询销售

应用测量结果

左图为使用本测试系统测得的某典型SiPM 的PDE 随波长变化的曲线。图中黑色点线、红色虚线、蓝色实线分别表示在给SiPM 施加的过偏压分别为2 伏，3 伏，4 伏时，SiPM 的PDE 随光波长变化的曲线。从图中可以看出，该SiPM 的波长响应范围约为350-900 nm，PDE 的峰值波长约为470nm。随着过偏压的升高，PDE 明显上升，过偏压为4V 时，峰值PDE 达到约14%，但峰位基本不发生变化（保持470 nm 不变）。

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