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光焱APD-QE 先进光传感器量子效率光学仪
参考价：￥50万-100万
历史价格
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品牌：光焱 产地：上海 型号：APD-QE 样本：来电或留言获取样本
常见问题
- 光焱APD-QE 先进光传感器量子效率光学仪价格？ 可以做哪些实验？
- 光焱APD-QE 先进光传感器量子效率光学仪参数？ 配套的耗材试剂？
- 光焱APD-QE 先进光传感器量子效率光学仪操作规程？ 使用注意事项？
参数
| 供应商性质：生产商 | 价格范围：50万-100万 | 符合标准：ASTM E1021 |
| 波长范围：300-1100 | 适用样品：InGaAs 光电二极管 / SPAD、 | 测量项目：外部量子效率 EQE、光谱回应 SR、 I-V 曲线检查、NEP、D*、Noise-current-frequency、 Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise |
产品介绍
APD-QE 先进光传感器量子效率光学仪
尖端光侦测器的尖端工具
APD-QE采用独家光束空间均匀化技术，利用ASTM标准的Irradiance Mode测试方式，与各种先进探针台形成完整的微米级光感测器全光谱量子效率测试解决方案。 APD-QE 已被应用于多种先进光传感器的测试中，例如在 iPhone 激光雷达与其多种光传感器、Apple Watch 血氧光传感器、TFT 影像感测器、有源主动像素传感器（APS）、高灵敏度间接转换 X 射线传感器等。
APD-QE 与各种探针台兼容，为各种光电探测器提供全面的测试解决方案，包括：
iPhone LiDAR 和光线传感器
Apple Watch血氧传感器
TFT 和有源像素传感器（ APS）
高灵敏度间接转换 X 射线传感器
描述
随着 5G 与移动设备的兴起与普及，越来越多新型光传感器被应用于我们的日常生活中。 为了能更好的应用在移动设备上，这些先进光传感器的组件感光面积越做越小。 但这些应用却对先进光传感器的光感测性能要求却越来越高。 在感光面积微缩的过程中，也带来量子效率精准检查的挑战。 例如，传统聚光型小光斑在不同波长下，色散差造成焦点位移可到 mm 等级。 难以将所有的光子都聚焦到微米等级的感光面积中。 因此，难以准确测得全光谱量子效率曲线。
APD-QE采用独家光束空间均匀化技术，利用ASTM标准的Irradiance Mode测试方式，与各种先进探针台形成完整的微米级光感测器全光谱量子效率测试解决方案。 APD-QE 已被应用于多种先进光传感器的测试中，例如在 iPhone 激光雷达与其多种光传感器、Apple Watch 血氧光传感器、TFT 影像感测器、有源主动像素传感器（APS）、高灵敏度间接转换 X 射线传感器等。
PEM™ （Photon-Energy Modulator） 简介，这是一款革命性的解决方案，旨在将您的量子效率测试和光谱分析提升到新的高度。 这种创新工具可精确控制光子通量和能量，确保在各种波长下获得准确可靠的结果。
传统QE系统在新型光电传感器测试的挑战：
- 市面上的量子效率系统多为「功率模式」。
- 随移动设备的大量普及，先进光电传感器如APD、SPAD、ToF等，组件收光面积均微型化，有效收光面积由数十微米到数百微米（10um ~ 200um）。
- 光束聚焦的「功率模式」 ，用来检查小面积的先进光电侦测器的问题：
- 难以将所有光子，完全打进微米等级的有效收光面积（无法达到功率模式的要求）=> 绝对 EQE 值难以取得。
- 在聚光模式下，难以克服光学色散差、球面像差等带来的检查误差。 => EQE 光谱曲线不正确。
- 难以整合探针台。
特点
- 使用均匀光斑的「照度模式」（Irradiance Mode） 符合ASTM E1021
- 均匀光斑可以克服色散差与像差的问题，可准确测得 EQE 曲线
- 可搭配多种探针台系统，实现非破坏性的快速测试。
- 整合光学与测试系统，提高系统搭建效率。
- 一键式自动化测试软件，自动全光谱校正与检查，工作效率高。
- 测试特性：
– 外部量子效率 EQE
– 光谱回应 SR
– I-V 曲线检查
– NEP 光谱检查
– D* 光谱检查
– Noise-current-frequency 噪声-电流-频率响应图（A/Hz-1/2; 0.01Hz~1,000Hz）
– Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
光焱科技Enlitech 的专家团队拥有丰富的实验室经验和技术知识，能够在线上或现场指导客户进行精密测试。 例如，通过对噪声电流频率图的详细分析，Enlitech 帮助客户识别潜在的测试误差，优化测试参数，从而提升测试的精确度与再现性。
Enlitech 深知，在光电领域中，精确测试对产品开发和质量控制至关重要。 客户在面对如噪声电流频率、量子效率（EQE）、探测度（D*）及噪声等效功率（NEP）等测试时，常常因仪器调校复杂、数据不稳定而感到困惑。 针对这些痛点，Enlitech提供了全面的解决方案。
EQE 和 D* 等指标直接影响光电探测器的灵敏度和性能，这在半导体、通讯及航空航天等高科技领域尤为重要。 准确的测试数据不仅能够帮助客户提升产品质量，还能降低产品开发周期，节省成本。
Enlitech
We Make Sensors Better.
规格
客制化光斑尺寸与光强度
光焱科技APD-QE光感测器量子效率检查系统在光斑直径25mm光束尺寸、工作距离200mm条件下检查，可以达到光强度与光均匀度如下。 在波长 530nm 时，光强度可以达到 82.97uW/（cm2）。
由 APD-QE（高级光电探测器量子效率测量系统）测量的典型 光强度 。 照明光束尺寸为直径 25 毫米，工作距离为 200 毫米。
| WL (nm) | Full Width at Half Maximum (nm) | Uniformity U%=(M-m)/(M+m) | |
| 5mm×5mm | 3mm×3mm | ||
| 470 | 17.65 | 1.6% | 1.0% |
| 530 | 20.13 | 1.6% | 1.2% |
| 630 | 19.85 | 1.6% | 0.9% |
| 1000 | 38.89 | 1.2% | 0.5% |
| 1400 | 46.05 | 1.0% | 0.5% |
| 1600 | 37.40 | 1.4% | 0.7% |
APD-QE（高级光电探测器量子效率测量系统）测量的典型 空间均匀性 。 照明光束尺寸为直径 25 毫米，工作距离为 200 毫米。
光焱科技拥有丰富的光学设计经验，可以根据您的需求，量身打造特定光束尺寸和光强度的光源。 欢迎与我们联系，专业团队将竭诚为您服务！
- 特有PEM光子数-光能量调节器 定光子数控制功能
APD-QE 光感测器量子效率检查系统具有「定光子数」功能 （选配），使用者可以通过控制各个单色光的光子数，让各波长的光子数都一样，并进行测试。 这也是光焱科技APD-QE光感测器量子效率检查系统的独家技术，其他厂家都做不到。
客户在不同的 constant photon flux 条件下，进行的光谱测试结果。
- 使用独特的 PEM（光子能量调制器）恒定光子控制功能（CP 控制模式），光子数的变化可以是 < 1%。
以上图为例。 灰色的“正常”线是氙灯光源在每个波长下的光强分布，显示了氙灯的光谱特性。 如果使用 CP 控制模式，则可以控制不同波长的不同光子数，以保持一致的输出特性。 橙色线 ‘CP=15000’ 表示不同波长的光子输出为 15,000 光子/s/um2
- 样品测试和分析示例
a-Si photo-FET样品
在不同的光强度条件下，测试的光谱回应会有所不同。 请参阅下面的测试结果 
OPV或钙钛矿PV样品
对于OPV或钙钛矿PV样品，通用模式和CP控制模式的测试结果没有差异。 请参阅下面的测试结果。 
系统设计
均光系统与探针台整合
- 高均匀度光斑
采用独家专利傅立叶光学元件均光系统，可将单色光光强度空间分布均匀化。 在10mm x 10mm面积以5 x 5检查光强度分布，不均匀度在470nm、530nm、630nm、850nm均可小于1%。 而在 20mm x 20mm 面积以 10 x 10 矩阵检查光强度分布，不均匀度可以小于 4%。
- PDSW 软件
PDSW 软件采用全新 SW-XQE 软件平台，可进行多种自动化检查，包含 EQE、SR、I-V、N
光焱APD-QE 先进光传感器量子效率光学仪信息由光焱科技股份有限公司为您提供，如您想了解更多关于光焱APD-QE 先进光传感器量子效率光学仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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