设备更新推荐 赛默飞ARL EQUINOX Pro立式 X射线衍射仪（XRD）

Thermo Scientific™ ARL™ EQUINOX Pro立式X 射线衍射仪，高精度、高效率、高可靠性

Thermo Scientific ARL EQUINOX Pro 是一款采用θ/θBragg-Brentano光学的立式XRD。这款仪器基于“整体最优”设计原则，凭借先进的软、硬件配置，实现仪器系统运行的整体优化，提升仪器分析的准确性、精确性、易用性和安全性。这款仪器能够出色地完成各类粉末晶体的衍射分析，广泛地应用于材料研发和产品质量控制的相关领域。

新型电控测角系统：最新的小型化和分散化电机控制系统，可克服由于驱动电机失步或超步引起的位置误差，提高测角仪的整体控制精度和重复性

先进光子探测技术：前沿PTPC(脉冲触发实时位置)计数技术，通过同步脉冲触发探测器的电子门控电路，将测角仪实际到达位置与探测器响应进行同步，实现探测器计数与测角仪位置的精确对应，将角度位置与信号采集精确控制在行业先进级别

魔卡免维护设计：光路魔卡设计系统和机械误差动态补偿技术，通过整个光路系统上的组件、光源高低、倾角、狭缝架高低、探测器的魔卡设计，支持用户在切换光路和样品台后无需再次校正，直接使用仪器

X射线衍射原理

帮助生产过程更高效，降低生产成本

精准监控原材料品质，确保产品质量高标准

严格遵循流程和法规，助力研发效率再提升

性能示例

卓越的角度准确性

测试国际标样NIST1976 刚玉片，在整个2θ范围内，角度线性度远优于±0.01°，极限可达0.007°，可提供优异的仪器校准，支持准确可靠的分析。

领先的角度分辨率

测试国际标样NIST 660 LaB6粉末，显示半峰宽<0.026°2θ,立式XRD中的佼佼者。

优异的低角度衍射性能

测试MCM41样品，EQUINOX Pro XRD显示出良好的低角度衍射性能，最低可从0.3°起测。

超凡的能量分辨率

测试磷酸铁锂样品，可以看到 EQUINOX Pro XRD所配备的能量色散探测器具备超凡的能量分辨率，能够有效去除过渡金属荧光背景，大幅提高信噪比。

超高强度/速度

• 640通道强度=2.5*256通道强度

• 640通道强度=3*192通道强度

• 640通道强度=5*128通道强度

超高信噪比

• 640通道：12.9

• 256通道：8.2

• 192通道：6.7

• 128通道：5.2

强大的软件分析功能

可快速对各种粉末衍射数据进行物相识别

能够使用从COD 计算出的免费参考图谱、或任何 ICDD PDF数据库、和/或您自己的衍射图谱或晶体结构数据进行物相识别

可以使用创新的轮廓拟合搜索匹配算法或经典的基于峰值的搜索匹配算法进行定性分析

可使用参考强度比法(RIR)、Rietveld细化法、DD法、结晶度(DOC)和/或内标法进行定量分析

指标化(可调用Treor或 Dicvol程序)

晶体结构解析(可调用Endeavour 程序)

可进行Rietveld细化和谱图分解(Le Bail方法)计算

可进行限制检索，即时使用附加信息(已知物相、元素、密度、颜色等)

自动的原始数据处理

使用鼠标进行背景定义/修改

使用鼠标可以方便地编辑峰值（添加/移位、删除/适合）

使用鼠标或对话框改进了缩放和跟踪功能

可对多组衍射数据进行三维显示，例如当需要比较数据时

基于Scherrer 法的晶体尺寸估算

该软件可在Windows、macOS 和Linux上运行，并兼容市面上几乎所有厂商衍射数据格式

丰富的样品杯选择

原位附件

高温室
HTK 1200N

毛细管扩展
HTK 1200N

高温加热带腔室
HTK 16N | HTK 2000N

反应室
XRK 900

高低温室
TTK600

低温和湿度室
CHC plus＋

台式加热腔
BTS 150 |BTS 500

适用四圆测角仪的圆顶高温台
DHS 1100

用于四圆测角仪的圆顶冷却台
DCS 500

拉伸台
TS 600

规格参数

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赛默飞ARL EQUINOX Pro立式 X射线衍射仪（XRD）信息由赛默飞世尔科技（中国）有限公司为您提供，如您想了解更多关于赛默飞ARL EQUINOX Pro立式 X射线衍射仪（XRD）报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

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