理学DicifferX WAXS Edition 广角 X 射线散射（WAXS）系统

DicifferX WAXS Edition

广角 X 射线散射（WAXS）系统为聚合物结构分析带来突破性速度与多功能性搭载高亮度 X 射线源的新一代 WAXS 系统仅需数秒曝光即可无损获取结构信息支持加热、拉伸、湿度条件下的时间分辨原位测量

DicifferX WAXS Edition 重新定义了实验室内部 WAXS 测量的可能性。它能在数秒内提供结构解析结果，加速决策进程并推动快速创新。以往需要长时间测量或借助外部大型装置的研究，如今可直接在您的实验室完成 —— 简化工作流程，助力材料研发提速。

概述

高光强微束 X 射线，实现无与伦比的测量速度

系统将高光强旋转阳极 X 射线发生器与高精度多层膜聚焦镜相结合，在 200μm 光束宽度下实现 10⁹ cps 的 X 射线强度，将高亮度光束精准投射至样品。高亮度 X 射线束不仅显著缩短测量时间，还提升了时间分辨率，可实现高速时间分辨测量，捕捉薄膜材料等温拉伸等过程中的实时结构变化。

无测角仪设计，样品空间宽敞，附件适配灵活

样品空间尺寸为 420mm（高）×190mm（宽）×400mm（深），承重 5kg，可容纳各类环境样品台与附件。可通过理学软件直接控制 Linkam 拉伸台与冷热台，灵活适配多样样品环境与测量需求。

宽 2θ 范围（最高 360°）二维数据扩展测量能力

样品与探测器间距可在 40–140mm 范围内调节。二维平板测量时，系统支持 β 方向全覆盖 360° 探测。

专属聚合物结构分析软件

理学专用聚合物结构分析软件，可利用二维数据对聚合物材料关键性能信息（如晶体结构、取向分布）进行定量分析，并清晰可视化呈现结果。

特点

• 快速、高精度测量高亮度 X 射线束缩短测量时间，实现结果快速反馈与短时间内大面积面扫测量。

• 实验室环境下高速时间分辨测量凭借超高时间分辨率，可在实验室环境下开展薄膜材料等温拉伸等高速时间分辨测量。

• 高度灵活的样品空间与测量环境宽敞的样品区域与高承重能力，可安装各类环境样品台及附件（含 Linkam 拉伸台、冷热台），支持不同尺寸、形状样品的测量。

• 全德拜环覆盖探测器大行程移动范围带来宽可选测量区域，结合多幅测量图像拼接的扩展测量功能，可实现覆盖全德拜环的二维测量。

• 晶体取向等信息直观可视化搭配聚合物结构分析软件 PolyOrientX，可基于取向分布、晶粒尺寸等参数，将实测数据与模拟结果对比；并可利用二维数据可视化晶体结构、取向分布等特征。

技术规格

可选配件

本产品可提供以下配件：

• 混合像素二维探测器 HyPix-6000HE

• HyPix-6000HE 混合光子计数探测器

• HyPix-3000 混合像素阵列探测器

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