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仪器简介:
ST5030--3DT薄膜厚度及三维影像度测量仪可以用于测量物体表面细微的三维影像 从而计算出表面凹凸物的高度,而且还有测量硅片(或玻璃)上精密薄膜的厚度 (如SiO2、SiNx、Poly-Si、Photo-Resist等膜层)的功能。
薄膜厚度及三维影像测量仪,ST5030-3DT
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