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GENESIS XM系列能谱仪使用EDAX公司著名的SAPPHIRETM系列液氮制冷型能谱探测器。
GENESIS XM系列能谱仪是高性能能谱仪的代表,其秉承了EDAX公司PHOENIX能谱仪指标高、性能好、寿命长,使用方便的特点,并更上一层楼。
EDAX能谱仪已广泛应用于国内外各种型号的扫描电镜和透射电镜,并且可以同EDAX公司的OIM(电子背散射衍射取向成像分析系统)和ACT(自动晶体学分析系统)构成一体化分析系统。
1.探头分辨率优于129eV,峰背比优于20000:1 2.检测元素范围Be4 - Es99 3.zei大计数率500,000cps 4.zei大图象采集分辨率8192x6400象素(矩形);8192x8192像素(方形) 5.zei大面分布图采集分辨率2048x1600象素(矩形);2048x2048(方形)
1.探头指标高,性能好,寿命长。 2.全新32位软硬件系统,工作可靠,效率高。 3.具有操作引导的集成式界面,使用直观方便。 4.具有多种专有技术软件,分析精度高。 5.软件种类及功能丰富,且具有报告生成系统。
Genesis XM系列X射线能谱仪(EDS/EDX),GENESIS XM
Genesis XM系列X射线能谱仪(EDS/EDX)信息由EDAX Inc.美国伊达克斯有限公司为您提供,如您想了解更多关于Genesis XM系列X射线能谱仪(EDS/EDX)报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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