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参考报价: | 面议 | 型号: | GENESIS XM |
品牌: | 暂无 | 产地: | 暂无 |
关注度: | 2502 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 |
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GENESIS XM系列能谱仪使用EDAX公司著名的SAPPHIRETM系列液氮制冷型能谱探测器。
GENESIS XM系列能谱仪是高性能能谱仪的代表,其秉承了EDAX公司PHOENIX能谱仪指标高、性能好、寿命长,使用方便的特点,并更上一层楼。
EDAX能谱仪已广泛应用于国内外各种型号的扫描电镜和透射电镜,并且可以同EDAX公司的OIM(电子背散射衍射取向成像分析系统)和ACT(自动晶体学分析系统)构成一体化分析系统。
1.探头分辨率优于129eV,峰背比优于20000:1
2.检测元素范围Be4 - Es99
3.zei大计数率500,000cps
4.zei大图象采集分辨率8192x6400象素(矩形);8192x8192像素(方形)
5.zei大面分布图采集分辨率2048x1600象素(矩形);2048x2048(方形)
1.探头指标高,性能好,寿命长。
2.全新32位软硬件系统,工作可靠,效率高。
3.具有操作引导的集成式界面,使用直观方便。
4.具有多种专有技术软件,分析精度高。
5.软件种类及功能丰富,且具有报告生成系统。
Genesis XM系列X射线能谱仪(EDS/EDX)信息由EDAX Inc.美国伊达克斯有限公司为您提供,如您想了解更多关于Genesis XM系列X射线能谱仪(EDS/EDX)报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途