SVT反射高能电子衍射图像的获取系统

美国SVT公司的反射高能电子衍射图像获取系统
外延生长必备检测工具
性能卓越
适用于多种型号的外延生长设备


技术参数：
RHEED Electron Source
2.75"和4" 法兰
RHEED Power Supply
RHEED Image Analysis Software
高分辨CCD 或相机
实时分析
2D/3D分析
RHEED Optional Components

主要特点：
实时检测外延生长
测量薄膜生长速率
单晶薄膜的生中速率测量

SVT反射高能电子衍射图像的获取系统信息由美国SVTA公司中国办事处为您提供，如您想了解更多关于SVT反射高能电子衍射图像的获取系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。