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适用于大多数的固态材料的SEM和TEM样品的制备。优秀的定点磨削和样品磨制状况的随时观察功能,尤其适用于电子类产品的失效分析实验。
1. 材料去除自动控制精度:2微米; 2. 磨盘转速:1~50转/分 3. 磨制情况观察:200倍观察器; 4. 适用材料:微电子元件、金属材料、陶瓷、矿物、复合物等; 5. 磨盘和制备表面;精密玻璃盘、金刚石磨料薄膜; 6. 附件包括;SEM和TEM卡具,样品磨制后无需喷金,可直接进行TEM实验; 7. 其它性能,请参看该系统详细资料。
可使操作者有效的控制所需的材料的去除量,同时还能随时的无需取下样品即可观察样品的磨制情况,从而有效的提高工作的精确性和效率。
SEM&TEM 样品磨制系统,MPC2000
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