您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
JSM-IT100钨灯丝扫描电镜,是日本电子株式会社在2015年11月推出的新型号数字化扫描电镜。是近几年销售名列前茅并深受好评的JSM-6000系列钨灯丝扫描电镜的zei新产品,并保留了JSM-6000系列良好的操作界面和出色稳定的控制系统,操作更加简单,堪称世界上zei先进的钨灯丝扫描电子显微镜。主要特点为全数字化控制系统,高分辨率、高精度的变焦聚光镜系统、全对中样品台及高灵敏度半导体背散射探头;用于各种材料的形貌组织观察、金属材料断口分析和失效分析。该型号在很多大学、研究院所及制造业被广泛使用。
JSM-IT100系列 扫描电子显微镜
JSM-IT100多功能扫描电镜,凝聚了日本电子50年来的SEM技术精华,外形设计紧凑。新开发的标准机型,不仅保持了InTouchScope系列广受好评的可操作性,还拥有能与高端机型相媲美的可扩展性,应用范围可涵盖以生物技术和纳米技术为首的包括材料开发、测试、评估和缺陷分析及质量控制等广泛领域。
产品特点:
JSM-IT100多功能扫描电镜,凝聚了日本电子50年来的SEM技术精华,外形设计紧凑。新开发的标准机型,不仅保持了InTouchScope系列广受好评的可操作性,还拥有能与高端机型相媲美的可扩展性,应用范围涵盖以生物技术和纳米技术为首的包括材料开发、测试、评估和缺陷分析及质量控制等广泛领域。 配置EDS功能的机型,其集成化的软件系统能完成从图像观察、元素分析到生成报告的连贯操作。InTouchScopeTM自2010年上市以来,客户已遍及世界多国,累计销售量超过1,000台以上,是钨灯丝扫描电镜中zei畅销的机型。
触控屏带来更加直观、舒适的操作
・ 采用触控屏,操作更直观。
・ 用操作面板*和鼠标都能操作,用户可根据自己的爱好来选择。
操作步骤简明易懂,初学者易于掌握
采用了高度集成的GUI,一键点击就可实现SEM和 EDS之间的切换,从图像观察到元素分析能在同一个窗口进行操作。 连贯的操作步骤使初学者也能简便、放心地使用。
按照样品交换导航的指示依次按下按钮,就能顺利地交换样品
・ 如果安装马达驱动样品台*和样品台导航系统*,寻找感兴趣的视场,感觉像使用光学显微镜一样。
・ 安装EDS导航器,有助于元素分析的操作。
可安装和高端机型同样选配件的多功能SEM
・ 配有低真空功能,即使是非电性样品不经预处理也能进行观察和分析。
・ 除了低真空观察、元素分析及可安装5轴马达驱动样品台外,加速电压还可以扩展到30kV(选配项)。
扩展了EDS的区域分析、线分析等功能
・ 采用日本电子制造的EDS,实现了GUI的高度集成,可以在同一窗口进行SEM和EDS之间的切换。
・ InTouchScopeTM 系列的EDS还扩展了区域分析、线分析和实时过滤功能。
节省空间,仅需一个100V的电源插座即可,不需要冷却水,安装方便
・ 与本公司的旧机型比较,安装面积减少了30%左右,仅需要和台式SEM大约相同的空间就可安装。
・ 可使用100V的电源插座。不需要冷却水,安装简单,对安装环境没有特殊要求。
* 选配项
产品规格:
主要选配件
加速电压扩展 ( AEK )
低真空用二次电子检测器
样品台导航系统
样品室观察装置
操作面板
可动光阑
马达驱动样品台 (XY、XYZ、XYR、5轴驱动)
Dry SD 能谱仪检测器 (10mm, 30mm, 60mm, 100mm)
3D测量软件 (3D Sight)
*1 : 加速电压扩展时
*2 : LV 和 LA 型为标配
*3 : A 和 LA 型为标配
*4 : 使用马达样品台可以安装
JSM-IT100钨灯丝扫描电子显微镜,JSM-IT100
JSM-IT100钨灯丝扫描电子显微镜信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供,如您想了解更多关于JSM-IT100钨灯丝扫描电子显微镜报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜(TIFF/SEM)的标记图像文件格式
JIS K 0132:1997 扫描电子显微镜总则
ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
JB/T 6842-1993 扫描电子显微镜试验方法
JJF 1916-2021 扫描电子显微镜校准规范
JJG(教委) 11-1992 扫描电子显微镜检定规程
KS M 0044-1999 扫描电子显微镜的一般规则
GSO ISO 22493:2015 微束分析 扫描电子显微镜 词汇
KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析扫描电子显微镜词汇
GB/T 33834-2017 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法
KS D ISO 22493:2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
KS I 0051-1999(2019) 扫描电子显微镜的一般规则
BS ISO 22493:2008 微束分析 扫描电子显微镜 词汇
KS I 0051-2019 扫描电子显微镜的一般规则
BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 扫描电子显微镜 词汇
KS D ISO 22493-2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则
KS I 0051-1999 扫描电子显微镜试验方法通则
南京大学南通材料工程技术研究院
盐城工业职业技术学院
2024年第八届色谱网络研讨会
质谱新纪元 探索组学无限可能—2024组学技术前沿创新高峰论坛
电子电器玩具合规性分析的难点及X荧光分析应对方案
生物药工艺开发与优化
场发射扫描电子显微镜
JSM-IT800超高分辨热场发射扫描电镜
“第十九期 日本电子(JEOL)NMR高级学习班”通知。
展位号:T0308, JEOL 参展SEMICON China 2024
日本电子全球同步发布钨灯丝扫描电镜升级 型号为JSM-IT510
Nature 正刊|JEOL CryoARM 冷冻电镜助力SlyB寡聚体对革兰氏阴性菌外膜保护机理的研究
日本电子(JEOL)俄歇能谱仪学习班
利用JEOL CRYO ARM™解析猴痘病毒免疫逃逸蛋白作用机制|Nature Communications
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号