J200 Femto iX LA 激光烧蚀（LA）

J200 Femto iX LA 激光烧蚀（LA）该设备是ASI生产，美国劳伦斯伯克利国家实验室的科研人员进行技术的研究，具有80多年LIBS技术的研究经验，对于激光、光谱仪器、成像系统、计算及电子器件具有丰富的经验，发表学术论文300余篇，J200 Femto iX LA源自于应用光谱公司旗舰级LA飞秒J100系统，数字化质量流量控制器（MFC）和电子控制阀，用于氩气、氦气及补充气体的输送。

产品优势:

1、高分辨率的双CMOS镜头，用于高倍放大和大视野预览，支持光学变焦；

2、智能运输气体控制，自动调整样品高度；

3、固态锂离子电池装置深度剖面的激光诱导击穿光谱分析；

4、双路数字流量控制器，可选第三个流量控制器（用于氮气或其他气体）；

5、数字化质量流量控制器和电子控制阀，用于氩气、氦气及补充气体的输送；

6、串联LA-ICP-MS和LIBS分析的LIBS（激光诱导击穿光谱）附加功能；

7、采用长激光脉冲的系统，会发生多种热过程，改变剥蚀样品的数量和化学成分，如改变热特性等；

8、激光剥蚀进样系统可以提供广角视野和高倍成像，以精确地研究精细区域；

9、具有直观友好的图形用户界面，可浏览不同样品区域，并建立灵活的激光采样方案；

10、系统软件提供大的视频窗口，显示清晰的、详细的样品图像；

11、紧凑的台式设计，负担得起的费用，维护成本低；

12、不论高度差异如何，在所有采样点上提供相同的激光通量，并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀；

13、时间分辨ICP-MS信号也可以非常流畅，并且可以轻而易举地获得TRSD（时间相对标准偏差）统计学数值；

14、高精度，准确度和灵敏度，紧凑型高重复率飞秒激光器，高分辨率3D样品台。

应用须知：

1、使用J200 LA仪器实现超灵敏电感耦合等离子体质谱（LA-ICP-MS）分析：玻璃样品研究。

2、Applied Spectra Inc.的J200 LA仪器与ICP-MS连接以建立品质因数。分析了NIST玻璃SRM（玻璃中的痕量元素）以确定可以检测的质量并确定检测限（LOD）。

J200 Femto iX LA 激光烧蚀（LA）进行有效的时间分辨ICP-MS信号处理，简单的定量分析，核心是紧凑而坚固的激光源，J200 Femto iX具有硬核的硬件设计，包括智能运输气体控制，自动样品高度调节，高分辨率3D样品台，创新的样品池和LIBS（激光诱导击穿光谱）附加功能，主体包括激光源、激光束传输光学器件、Flex样品室、气体流量控制系统以及LIBS检测器。为了节省宝贵的实验台空间，激光电源模块可以从主机中分离出来，放置在实验台下面。

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