J200 Femto iX LA 激光烧蚀（LA）

J200 Femto iX LA 激光烧蚀（LA）该设备是ASI生产，美国劳伦斯伯克利国家实验室的科研人员进行技术的研究，具有80多年LIBS技术的研究经验，对于激光、光谱仪器、成像系统、计算及电子器件具有丰富的经验，发表学术论文300余篇，J200 Femto iX LA源自于应用光谱公司旗舰级LA飞秒J100系统，数字化质量流量控制器（MFC）和电子控制阀，用于氩气、氦气及补充气体的输送。

产品优势:

1、高分辨率的双CMOS镜头，用于高倍放大和大视野预览，支持光学变焦；

2、智能运输气体控制，自动调整样品高度；

3、固态锂离子电池装置深度剖面的激光诱导击穿光谱分析；

4、双路数字流量控制器，可选第三个流量控制器（用于氮气或其他气体）；

5、数字化质量流量控制器和电子控制阀，用于氩气、氦气及补充气体的输送；

6、串联LA-ICP-MS和LIBS分析的LIBS（激光诱导击穿光谱）附加功能；

7、采用长激光脉冲的系统，会发生多种热过程，改变剥蚀样品的数量和化学成分，如改变热特性等；

8、激光剥蚀进样系统可以提供广角视野和高倍成像，以精确地研究精细区域；

9、具有直观友好的图形用户界面，可浏览不同样品区域，并建立灵活的激光采样方案；

10、系统软件提供大的视频窗口，显示清晰的、详细的样品图像；

11、紧凑的台式设计，负担得起的费用，维护成本低；

12、不论高度差异如何，在所有采样点上提供相同的激光通量，并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀；

13、时间分辨ICP-MS信号也可以非常流畅，并且可以轻而易举地获得TRSD（时间相对标准偏差）统计学数值；

14、高精度，准确度和灵敏度，紧凑型高重复率飞秒激光器，高分辨率3D样品台。

应用须知：

1、使用J200 LA仪器实现超灵敏电感耦合等离子体质谱（LA-ICP-MS）分析：玻璃样品研究。

2、Applied Spectra Inc.的J200 LA仪器与ICP-MS连接以建立品质因数。分析了NIST玻璃SRM（玻璃中的痕量元素）以确定可以检测的质量并确定检测限（LOD）。

J200 Femto iX LA 激光烧蚀（LA）进行有效的时间分辨ICP-MS信号处理，简单的定量分析，核心是紧凑而坚固的激光源，J200 Femto iX具有硬核的硬件设计，包括智能运输气体控制，自动样品高度调节，高分辨率3D样品台，创新的样品池和LIBS（激光诱导击穿光谱）附加功能，主体包括激光源、激光束传输光学器件、Flex样品室、气体流量控制系统以及LIBS检测器。为了节省宝贵的实验台空间，激光电源模块可以从主机中分离出来，放置在实验台下面。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途