“先进的SEM更为紧凑”
宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计,仍具备4.0 nm的图像分辨率。
全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。
特点
FlexSEM 1000 II,凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器,可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面,具有亮度和对焦自动调节功能,可以在短时间内进行各种观察。此外,还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”,这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点,实现最直观的视野移动。
尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜,仍可实现4.0 nm的分辨率
凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器(UVD*2),可在低加速/低真空下观察时实现最高的画质
全新的用户界面,无论用户的熟练程度如何,都可实现高画质和高处理能力
全新的定位功能“SEM MAP”,支持观察时的视野搜索和样品定位
大直径(30毫米2)无氮EDS检测器,可快速进行元素分析*2
*1 设置到桌面上时,请将机体与电源盒分离
*2 选项
日立高新技术公司于2016年4月15日在全球发布了新型扫描电子显微镜——FlexSEM 1000。该产品结构紧凑,占地面积小,但分辨率不输大型电镜,同时操作极其简便,几乎不用培训就可操作。紧凑型设计,分辨率为4 nm。
扫描电子显微镜可对材料的表面进行高倍率观察及高精度元素分析,在纳米技术、生命科学、产品设计研发及失效分析等领域有着广泛的应用。 近年来,扫描电镜观察表面精细结构及元素分析的需求日趋增加,而越来越多的用户希望能在生产线、品保检验线和办公区等有限的空间里使用扫描电子显微镜。因此,体积小、操作简便、分辨率高的扫描电子显微镜备受关注。FlexSEM 1000主机宽450mm、长640mm,相比SU1510型号体积减小52%,重量减轻45%,功耗减小50%,且配备标准化的电源接口。主机与供电单元可分离,安装非常灵活。
FlexSEM 1000采用最新设计的电子光学系统和高可靠性、高灵敏度的探测器,分辨率高达4nm。FlexSEM 1000有多种自动化功能,操作简便,即便是初次操作者也能快速拍出高质量图像。另外,新开发的导航功能「SEM MAP」可使用各种光学图片或电镜照片进行导航,一键就快速精准地切换至感兴趣的高倍率视野。
紧凑型VP-SEM FlexSEM 1000
(主机与供电单元可分离)
特点:
a. 通过高灵敏度二次电子探测器,背散射探测器,低真空探测器(UVD*2),实现低加速电压/低真空下高质量图像观察
b. 操作简捷,即使新手也能拍出高质量的图片
c. 新开发的导航功能「SEM MAP」,便于快速锁定视野
d. 大窗口(30 mm2)SDD能谱系统,便于快速分析元素成分*2
*1 设置在桌面时,分离主机和电源箱
*2 选配
项目 | 内容 |
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分辨率*3 | 4.0 nm(二次电子像、加速电压:20 kV、高真空模式) 15.0 nm(二次电子像、加速电压:1 kV、高真空模式) 5.0 nm(背散射电子像、加速电压:20 kV、低真空模式) |
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加速电压 | 0.3 kV~20 kV |
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倍率 | ×6~×300,000 (照片倍率) ×16~×800,000 (显示器显示倍率) |
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低真空设置 | 6~100 Pa |
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电子枪 | 集中灯箱(Pre-Centered Cartridge Filament) |
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样品台 | 3轴马达驱动样品台 X:0~50 mm、Y:0~40 mm、Z:5~15 mm T:-15~90°、R:360° 最大可观察范围:直径64mm(R联用)*4 |
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最大样品尺寸 | 直径80 mm(选配:直径153mm) |
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最大样品高度 | 40 mm |
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尺寸 | 机体:450(宽度)×640(进深)×690(高度) mm 电源盒:450(宽度)×640(进深)×450(高度) mm |
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选项 | 高敏感度低真空检测器(UVD2.0) 能量色散型X射线检测器(EDS)
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软件 | Multi Zigzag(连续视野图像导入功能) |
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* PC、桌子、监控器由客户准备
*3 机体和电源盒连接时候
*4 使用标准支架时
日立高新扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II,FlexSEM 1000 II
日立高新扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II信息由日立高新技术公司为您提供,如您想了解更多关于日立高新扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。