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仪器简介:科美(K-MAC)公司的ST2000-DLXn薄膜测厚仪适用于大学和科研中心。技术参数:1、尺寸 :190 x 265 x 316 mm 2、重量 :12Kg 3、类型 :手动的 4、测量样本大小 :≤ 4" 5、测量方法 :非接触式 6、测量原理 :反射计 7、活动范围 :150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) 8、测量范围 :200Å~ 35㎛(根据膜的类型) 9、光斑尺寸 :20㎛ 典型值 10、测量速度 :1~2 sec./site 11、应用领域 :a)聚合体: PVA, PET, PP, PR ... b)电解质: SiO2、TiO2、ITO、ZrO2、Si3N4 c)半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 12、选择 :参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) 13、探头类型 :三目探头 14、nosepiece :Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt 15、照明类型 :12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer 主要特点:测量迅速,操作简单 非接触式,非破坏方式 优秀的重复性和再现性 用户易操作界面 每个影像打印和数据保存功能 可测量多达3层 可背面反射
ST2000薄膜测厚仪(涂层),ST2000-DLXn
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