仪器简介：
科美（K-MAC）公司的ST2000-DLXn薄膜测厚仪适用于大学和科研中心。

技术参数：
1、尺寸 ：190 x 265 x 316 mm
2、重量 ：12Kg
3、类型 ：手动的
4、测量样本大小 ：≤ 4"
5、测量方法 ：非接触式
6、测量原理 ：反射计
7、活动范围 ：150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
8、测量范围 ：200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
9、光斑尺寸 ：20㎛ 典型值
10、测量速度 ：1~2 sec./site
11、应用领域 ：a)聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
b)电解质: SiO2、TiO2、ITO、ZrO2、Si3N4
c)半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
12、选择 ：参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
13、探头类型 ：三目探头
14、nosepiece ：Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
15、照明类型 ：12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer




主要特点：
测量迅速，操作简单

非接触式，非破坏方式

优秀的重复性和再现性

用户易操作界面

每个影像打印和数据保存功能

可测量多达3层

可背面反射

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途