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Xplore是SEM常规分析所用新一代EDS探测器。探测器有效晶体面积为15/30mm2 ,应用范围广泛。
Xplore使用了Ultim Max探测器中诸多新技术,它提供了实时EDS分析所需的快速数据采集,同时保证了常规分析所需的自动可靠的结果。
速度
Extreme电路与X1脉冲处理器的结合使Xplore能够以1,000,000 cps的计数率进行面分布分析,并以100,000 cps的速度进行准确定量分析
灵敏度
新的紧凑型设计使得探测器体积小巧且便于现场维修,更大限度地延长工作时间并减少宕机时间
Extreme电路
Xplore结合了先进的Extreme电路,提供尽可能低的噪音信号检测和处理。确保在高计数率下获得出色的能量分辨率和谱图质量,保证在100,000 cps下获得129eV Mn Kα分辨率
牛津仪器Xplore能谱探测器,Xplore15/Xplore30
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