牛津仪器Ultim Max硅漂移型探测器

　　Ultim Max是新一代硅漂移型探测器（SDD)，配有大面积晶体和低噪音电子元器件，分析速度和探测灵敏性都有大幅提升。

　　Ultim Max采集效率可达以往的17倍，而且不会降低精度。无论您是想做更大区域的面扫描，或者在每个点分析中获得更好的统计数据，更快地采集数据，还是研究最小的纳米结构，Ultim Max都是SEM中X射线分析的理想工具。

　　速度-低噪音电子元器件和X4脉冲处理器的结合，使Ultim Max能够在1,500,000 cps的计数率下对样品进行面分析，并在400,000 cps计数率下进行精确定量。

　　灵敏度-晶体尺寸有着很大影响。使用Ultim Max的大面积晶体（100 mm²和170 mm²），可大幅提高极端分析条件下的计数率。

Ultim Max系列能谱仪采用高端技术设计，将大面积晶体（最大可达170mm2）和Extreme电子电路结合起来，使该系列探测器拥有采集速度快、敏感性高和定量分析准确性高的特点。

Ultim Max系列中所有型号探测器在130,000cps计数率下能够同时保证轻元素（C Ka、F Ka）和重元素（Mn Ka）的能量分辨率达到技术指标。在发货前，工厂会在SEM上测试探头的性能。安装时会再次测试能量分辨率，确保客户在使用时（高计数率、低电压、原位测试等条件）下得到高质量的结果。

Ultim Max系列探测器采用集成、可控伸缩设计，在使用时可快速推进，不使用时可快速撤出。

Ultim Max是牛津仪器推出的新一代硅漂移探测器。大面积晶体探测器和Extreme电子电路优化实现高灵敏性下的高速采集。

Ultim Max系列探测器拥有大面积晶体，同样时间内，保证相同水平定量分析的准确性的前提下，采集到的X射线计数可以达到以往的17倍。当您希望采集更大的区域、每个像素点有更多的X射线计数、采集速度更快或者表征纳米结构时，Ultim Max探测器将是扫描电镜上X射线分析的理想解决方案。

1.晶体面积

2.低噪音X射线探测

3. 波纹管SEM接口

4.可控伸缩

5.可在大于400,000cps条件下定量分析

6. 可在大于1,000,000cps条件下进行面分析

7. 晶体面积很重要

8. Tru-Q®算法保证高低计数率下定量分析具有同样的准确性

9. 样品损伤

10. 样品污染

11 TruMap

12.实时元素成像

13. 低含量元素的成像

14. 轻元素分析

15.低电压分析

Ultim Max系列探测器采用Extreme级电子电路和X4脉冲处理器，最高计数率超过1,500,000cps，可在400,000cps计数率下进行准确定量分析。

Extreme电子电路的噪音水平非常低，可以准确地识别低能端的X射线。

Ultim Max系列探测器拥有大面积晶体，同时保证低能X射线的能量分辨率，是低电压下分析纳米结构元素分布的得力工具。

Ultim Max系列探测器的大面积晶体和高通量处理器使电镜平台上元素的实时成像成为可能。

相同时间内采集效率提高17倍

Ultim Max系列探测器拥有大面积晶体，在相同时间内采集效率可以提高17倍，同时不损失定量分析的准确性。当用户希望采集更大面积的区域、每个像素点获得更多的X射线技术、采集时间更短或者研究更细小的纳米结构时，Ultim Max探测器是理想的选择。

Ultim Max: SDD技术革命

新一代SDD - Ultim Max兼具低噪音电路系统和高灵敏大面积SDD晶体

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