上海伯东代理美国 inTEST-Temptronic高低温测试机用于集成电路IC卡高低温测试 集成电路 IC 卡高低温测试原因:集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试,用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能,inTEST-Temptronic高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试、冷热冲击测试、老化测试等试验。inTEST-Temptronic高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃,特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。
集成电路 IC 卡高低温测试客户案例:上
海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商,经过技术选型,采购 inTEST-Temptronic ATS-505
用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计,体积轻巧,测试温度范围:-20°C 至
+225°C,采用旋钮式控制面板,操作直观。