服务详情
X-射线光电子能谱(XPS)可以定性检测元素周期表中除H和He以外的几乎所有元素，可以提供有关固体表面和界面的化学信息（元素种类、相对含量及价态信息）。此外，通过角分辨法及Ar离子剥离法可以提供元素深度分布信息，主要用于固体样品表面的组成、化学状态分析。能进行定性、半定量及价态分析。广泛应用于聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究，以及腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。
送样要求：
1. 固体样品面积≤1.0cm2（<8*8mm）, 高（厚）度≤1.0mm，厚度6mm，有平面。X光打样深度：1-10nm。
2. 粉末固体样品10-100mg
3. 样品要求真空干燥，不含腐蚀性、易挥发、磁性及放射性物质
4. 请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他）
5. XPS可以对H、He外的其它元素进行定性、半定量和化学态分析，检出限是原子百分含量在0.1-1%以上，不同元素检出限不同。
6. 一次可分析所有元素
项目介绍
所用仪器：X射线光电子能谱
服务价格：800元/样（表面分析） 850元/样（磁性粉末表面分析） 500元/小时（深度剖析）
依据标准号：JY/T 013-1996
依据标准号：JY/T******子能谱仪方法通则
X射线光电子能谱仪(XPS)分析测试,X射线光电子能谱仪(XPS)分析测试
X射线光电子能谱仪(XPS)分析测试信息由北京大学研发服务基地（北达燕园微构分析测试中心）为您提供，如您想了解更多关于X射线光电子能谱仪(XPS)分析测试报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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