X射线光电子能谱仪(XPS)分析测试

服务详情

X-射线光电子能谱(XPS)可以定性检测元素周期表中除H和He以外的几乎所有元素，可以提供有关固体表面和界面的化学信息（元素种类、相对含量及价态信息）。此外，通过角分辨法及Ar离子剥离法可以提供元素深度分布信息，主要用于固体样品表面的组成、化学状态分析。能进行定性、半定量及价态分析。广泛应用于聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究，以及腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。

送样要求：

1. 固体样品面积≤1.0cm²（<8*8mm）,  高（厚）度≤1.0mm，厚度6mm，有平面。X光打样深度：1-10nm。

2. 粉末固体样品10-100mg

3. 样品要求真空干燥，不含腐蚀性、易挥发、磁性及放射性物质

4. 请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他）

5. XPS可以对H、He外的其它元素进行定性、半定量和化学态分析，检出限是原子百分含量在0.1-1%以上，不同元素检出限不同。

6. 一次可分析所有元素

项目介绍

所用仪器：X射线光电子能谱

服务价格：800元/样（表面分析） 850元/样（磁性粉末表面分析） 500元/小时（深度剖析）

依据标准号：JY/T 013-1996

依据标准号：JY/T 013-1996 电子能谱仪方法通则

X射线光电子能谱仪(XPS)分析测试信息由北京大学研发服务基地（北达燕园微构分析测试中心）为您提供，如您想了解更多关于X射线光电子能谱仪(XPS)分析测试报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途