KLA 探针式台阶仪 P7-台阶仪原理(科磊半导体)

P-7建立在市场领先的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。

KLA 探针式台阶仪 P7-台阶仪原理, P7

KLA 探针式台阶仪 P7-台阶仪原理信息由新耕（上海）贸易有限公司为您提供，如您想了解更多关于KLA 探针式台阶仪 P7-台阶仪原理报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。