您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
仪器简介:
功能 ◆ 三维轮廓 ◆ 粗糙度(Roughness) ◆ 形貌(TTV,BOW,Warp) ◆ 膜层厚度(Film Thickness) ◆ 原子力显微镜(AFM) 应用 ◆ 汽车工业 ◆ 半导体加工 ◆ 精密光学 ◆ MEMS ◆ 钢铁工业 ◆ 造纸业 ◆ 生物学 ◆ 纳米技术 ◆ 模具加工 ◆ 材料分析
作为光学表面测量仪器的专业生产厂商,德国FRT公司拥有世界先进的纳米测量技术和专利。 其设备内部可选的不同的功能模块可以高精度非接触量测表面的粗糙度平坦度、膜厚、翘曲形变。 FRT与强大的伙伴合作,在表面测量领域处于绝对先锋。
◆ 非接触式光学量测,被测零件无痕无损坏; ◆ 客户化定制; ◆ 多达25种不同功能的测量传感器,提供灵活的配置选择; ◆ 纳米高精度测量; ◆ 测量速度快; ◆ 可测量大口径和大尺寸零件。
FRT光学表面量测仪器,
FRT光学表面量测仪器信息由新耕(上海)贸易有限公司为您提供,如您想了解更多关于FRT光学表面量测仪器报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
JEDEC JESD22-B108A-2003 表面装贴半导体仪器的共面性测试
GJB 5426.10-2006 国防科技工业物资分类与代码 第10部分:仪器仪表
EN 61040:1992 激光辐射能量与功率测量检测器,仪表和设备
SIS SS IEC 333:1986 核检测仪表.半导体带电微粒探测器测试程序
SIS SS IEC 759:1986 核检测仪表.半导体X射线能谱仪检测程序
ISO 9849:2017 光学和光学仪器——大地测量和测量仪器——词汇
SIS SS IEC 340:1981 核检测仪表.电离辐射半导体检测器用放大器和前置放大器测试程序
JB/T 7395.2-1994 电测量仪器仪表术语 电测量器具和设备
KS B ISO 9849:2002 光学和光学仪器.测量仪器.词汇
JY/T 0624-2018 高等学校固定资产分类与代码
KS B ISO 9849-2017 光学和光学仪器大地测量仪器词汇
SIS SS IEC 596:1981 核检测仪表.半导体辐射探测器及闪烁计数器检测法术语解析
ISO 12858-2:2020 光学和光学仪器 - 大地测量仪器辅助设备 - 第2部分:三脚架
ISO 9849:1991 光学和光学仪器.大地测量仪器.词汇
JB/T 5667-1991 光学和光学仪器大地测量仪器术语
KS B ISO 9849:2017 光学和光学仪器大地测量仪器词汇
KS B ISO 9849-2017(2022) 光学和光学仪器大地测量仪器词汇
生物药工艺开发与优化
转矩流变仪的功能与应用概述
活细胞内RNA动力学追踪成像新工具
沃特世UPLC 20周年庆 : 超越高效二十载
KLA-Tencor Candela CS10/CS20 表面缺陷检测设备
KLA-Tencor Profiler探针式台阶仪-台阶仪精度
Toho FLX-2320-S薄膜应力计
Genmark Sort-Max 晶圆分拣器
Revera量测设备
Seminet光罩检查及存储设备
TMC防震和减震系统
Rhazer及先进光罩修复系统nm450
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号