AstruM ES是一台双聚焦辉光放电质谱仪，一次扫描就可以测定从亚ppb到基体之间所有元素的含量。它被广泛地应用在高纯金属，半导体材料，航空航天材料的杂质检测。

一台双聚焦辉光放电质谱仪，一次扫描就可以测定从亚ppb到基体之间所有元素的含量。它被广泛地应用在高纯金属，半导体材料，航空航天材料的杂质检测。

辉光放电 MS

专为满足行业需求而打造

在材料纯度至关重要的情况下快速分析导电和非导电固体

• 低流量源
  极高的稳定性和易于调整：在短短 5 分钟内即可运行，气体背景低。

• 快速吞吐量能力
  显著减少的分析时间使Astrum Swift成为合金和低纯度材料分析的理想选择。
  

• 脉冲低温冷却
  通过创新的脉冲低温冷却实现终极温度控制，实现最低的气体背景
  并减少液氮消耗。便于分析低熔点样品。

• 拥有成本低
  可预测的成本，强大的结果。耗材用量低，维护成本低。

在一次扫描中量化几乎所有从 100% 到亚 ppb 的元素，动态范围跨越 12 个数量级。使用具有自动交叉校准功能的双探测器系统，Astrum Swift 可以在 3 分钟内测量从锂到铀的 78 种同位素。

使用 CoDaq 软件

CoDaq 具有灵活的用户界面和与行业专家合作开发的功能，是 GD-MS 软件的新标准。

新的 Astrum CoDaq 软件优先考虑用户体验，允许多个访问级别、自动化工作流程和可定制的仪表板。可以在 CoDaq 中设置多个用户级配置文件，以便于培训并保持标准作程序的合规性。

CoDaq 旨在为新用户和有经验的用户提供便利：

• 全自动源排气和泵送 • 自动检测器交叉校准 • 灵活的自动音源调谐 • 自动气体控制以保持辉光稳定性 • 液氮调度器

产品概述-

低流量直流电源
提供极致的稳定性和易于调谐。开机后仅需 5 分钟即可运行。低气体流量意味着低水平的气体干扰。

灵活的样品几何形状
提供最大的分析便利性。可分析针状、扁平状、粉末状、颗粒状、线状、箔状、细丝状，甚至液体样品。

半导体和非导电样品
的分析是可能的，当使用二次阴极支持辉光放电时。

轻松更换样品 无需
工具即可更换样品架，提供可预装的样品架，以实现最高效率。通过自动泵和通风口进行稳定调整和快速设置。

脉冲低温冷却
采用创新的脉冲低温冷却的终极温度控制可提供最低的气体背景并减少氮气消耗。便于分析低熔点样品。

低气体背景
所有Astrums都标配气体净化套件，以确保最低的C、N和O水平。低拥有成本可预测的成本，强大的结果。减少液氮消耗和用户可定义的冷却计划，以优化仪器冷却。消耗性组件少，设计坚固可靠，可最大限度地延长正常运行时间。

低气体消耗量
低流量设计意味着，在典型流速下，标准加压氩气瓶可以使用数年。可重用的源 所有源组件都是可重用的。低污染的钽源易于清洁，并减少记忆效应。

快速吞吐量能力
Astrum Swift具有快速吞吐量的特点，显著缩短了分析时间，特别是对于合金和低纯度材料。

宽动态范围
双检测器系统（法拉第和离子计数倍增器）在单次扫描中提供从 100% 到亚 ppb 的 12 个数量级的动态范围。

连续可变分辨率
范围：300 至 >10,000 RP。

质量范围
广 单次扫描

质量范围为 1-300 AMU CoDaq 软件
Nu 的直观控制和数据采集软件通过自动源调谐、ICE 校准、源泵送和通气，使您的结果变得简单。

涡轮分子泵系统
减少维护，加快排气后的泵送时间。

GD-MS 简介

GD-MS 能够以最少的样品制备直接分析固体材料。使用低压排放气体（通常是氩气）对样品进行溅射和电离，该过程称为辉光放电。样品离子被加速并引导至高分辨率质谱仪中，在那里它们通过强大的磁场按质量分离。然后使用双检测器系统测量离子束，甚至可以检测单个离子。这使得元素组成的定量成为可能。

辉光放电是通过低压气体在两个金属电极之间施加电压而形成的等离子体。当这种气体电离时，它会与阴极（样品）相撞，将表面溅射出材料，随后被电离并直接进入质谱仪进行定量。可以对各种基质进行整体分析和深度剖析分析。

用于 GD-MS 的样品制备为几 mm2 的扁平样品（最大约 30x3Omm，从薄箔到约 20mm 深，样品必须足够平坦，以便在表面形成气体密封）或最大尺寸为 3 mm 外径和 23 mm 长的针状样品。为了产生放电，样品必须导电，但对于不导电的样品，可以通过将非导电材料或粉末片粘合或压入牺牲的高纯度导体（例如 7n 铟）来实现分析。样品池经过低温冷却，可以分析低熔点材料并减少气体背景物质的干扰。

放电本身是通过在样品和样品池出口孔之间施加一个大的直流电位来产生的，并存在少量氩气（e-1 至 e-2mbar 压力）。氩气从样品中电离并溅射材料，然后样品自身电离。这种溅射和电离在空间和时间上的分离最大限度地减少了基质效应。在样品池之后，来自排放口的正离子被加速并聚焦到质谱仪的源狭缝上。质谱仪是一种正向几何 Nier-Johnson 双聚焦扇形磁场，具有 300 分辨率下平顶峰的特性。平顶峰用于调谐，但几乎所有分析都以 4000 分辨率进行，这消除了 GD-MS 中的大部分干扰

Astrum ES 辉光放电质谱仪信息由阿美特克中国（AMETEK）为您提供，如您想了解更多关于Astrum ES 辉光放电质谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。