雪迪龙飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）

产品简介：

飞行时间二次离子质谱仪是一种非常灵敏的表面分析技术，可以揭示表面及近表面原子层的化学组成、分析材料单层表面信息、可检测所有元素、识别有机物的结构等，可用于各种材料的高灵敏度表面分析和深度剖析。SurfaceSeer I是一种高灵敏度的飞行时间二次离子质谱仪，用于绝缘、导电表面的成像分析与化学成分分析。SurfaceSeer I是表面化学研究、研发与工业质量控制等方面的理想选择。

应用领域：

适用于各行业的材料成分分析，包括电子元件和半导体、电极与传感器、油漆涂料等表面涂层、润滑剂、粘合剂、催化剂、薄膜包装材料等等工业领域；适用于大学科研教学以及物理、化学、材料学、地质学相关科研院所等研究场所。

产品特点：

配备25kV液态金属离子枪（LMIG），检测能力更强，质量分辨率更高

具备表面成像和深度剖析功能

高度稳定可调的样品台（X、Y、Z轴），满足不同厚度样品分析需求

SIMS库包含上千种材料的质谱数据，可识别未知的化合物和材料

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