雪迪龙飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）

产品参数

产品简介：

飞行时间二次离子质谱仪是一种非常灵敏的表面分析技术，可以揭示表面及近表面原子层的化学组成、分析材料单层表面信息、可检测所有元素、识别有机物的结构等，可用于各种材料的高灵敏度表面分析和深度剖析。 SurfaceSeer -S是一种结构紧凑且价格合理的TOF-SIMS，用于快速检测表面化学特性。它是研究样品表面化学成分的理想选择，适用于产品研发和工业质量控制等。

应用领域：

适用于各行业的材料成分分析，包括电子元件和半导体、电极与传感器、油漆涂料等表面涂层、润滑剂、粘合剂、催化剂、薄膜包装材料等等工业领域；适用于大学科研教学以及物理、化学、材料学、地质学相关科研院所等研究场所。

产品特点：

针对工业领域的低成本TOF-SIMS仪器

低能电子枪（5KV Ar+/Cs+离子束），实现样品“无损”分析

可在1~2min内实现高速率的正负质谱分析

均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析 

全质量范围的质量分辨率>1000 M/δM (FWHM)

无需进行复杂的调谐，易于使用

可选SIMS数据库，辅助定性分析化学组分

雪迪龙飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）,SurfaceSeer -S

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