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用于分析放射性样品的高性能屏蔽式 SIMS 仪器
众所周知,动态二次离子质谱仪(SIMS)适用于广泛的核科学应用,但对于高放射性材料(如辐照核燃料)的研究,则需要使用特定的仪器。ACTINIS 源于经过实证的 CAMECA IMS 7f 系统,设计用于在安全环境中对放射性样品进行高精度元素和同位素分析:它集成在一套生物保护装置中,以保护操作人员在样品转移和分析过程中免受污染和辐照影响,并配有多个用于最大限度地减少人工操作的特殊装置(如安全进样系统)。
产品概述
划时代的 SIMS 性能ACTINIS 保留了 IMS 7f/7f-GEO 型号的最佳特性,可提供高灵敏度的深度剖析和同位素比测量,以及亚微米级横向分辨率的元素和同位素图谱。
双等离子体和铯一次离子源的组合,确保了对正电和负电物质有最佳的灵敏度
二次离子光学收集系统具有高电场,可优化传输,还有光束对中,可实现优异的重复性,其光学选通功能还可实现高动态范围的深度剖析
双聚焦质谱仪(用于能量聚焦的静电分析仪,具有快速峰值切换功能的叠层磁铁)
带有一个电子倍增器(EM)和两个法拉第杯(FC)的特殊检测系统,采用最先进的测电技术(低噪声和稳定的基线)
用于仪器调谐的直接离子成像
扫描离子成像,用于以高横向分辨率绘制大小区域的图谱。
最先进的屏蔽技术包装中包含机械图纸和生物保护装置(仪器屏蔽装置)的详细规格,确保了辐射安全以及轻松与 SIMS 仪器进行连接。ACTINIS 配备了足够的手套箱(阿尔法保护)和铅壁室(伽马保护),可以分析在距离样品 5 厘米处测得的活性(剂量率)高达 2 Gy/h 的样品。全自动和易于使用ACTINIS 的自动化水平高,配有多个用于最大限度地减少人工操作的特殊装置,如安全进样系统等。我们开发了特殊工具,并对离子光学装置进行了改进,现在用户能够轻松在屏蔽装置内部进行维护。ACTINIS™ 的灵感来自于希腊语“ἀκτίς”(射线),同时也指核应用中特别重要的化学元素,即锕系元素。
CAMECA ACTINIS - 带屏蔽功能的IMS,ACTINIS
CAMECA ACTINIS - 带屏蔽功能的IMS信息由CAMECA SAS为您提供,如您想了解更多关于CAMECA ACTINIS - 带屏蔽功能的IMS报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
CAMECA 二次离子质谱仪SIMS 7F-AUTO
为世界领先的地质年代学研究提供的专用离子探针为了满足地质年代学家日益增加的需求,CAMECA推出了KLEORA,这款大尺寸几何结构SIMS仪器专门针对先进的U-Th-Pb矿物定年进行了全面优化。
SIMS介绍当固体样品被几keV能量的一次离子溅射时,从靶发射出来的一部分颗粒被电离。二次离子质谱法是使用质谱仪分析这些二次离子。离子轰击下固体表面的二次离子发射提供了有关其最上面的原子层的元素、同位素和分子组成的信息。根据化学环境和溅射条件(离子、能量、角度),二次离子产生率会有很大的变化。这会增加该技术的量化方面的复杂性。无论如何,SIMS被公认为最灵敏的元素和同位素表面分析技术。SIMS技术为氢到铀及其以上的所有元素(许多元素的检出限低至ppb级)提
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