TOF-SIMS M6 Hybrid SIMS / 超高分辨TOFSIMS / IONTOF 应用于电子/半导体(IONTOF)

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  M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）仪器，对一次离子源（LMIG）和质量分析器（TOF Analyser）进行了突破性的改进。

Hybrid SIMS将TOF分析仪的快速成像功能与Q Exactive^TM独特的超精准的鉴定性能相结合，为有机样品的分析和检测提供了更高水平的SIMS信息。该新扩展升级还提供高端MS / MS联用功能对分子信息进行进一步确认。为高分辨率的分子信息SIMS应用树立了一个新高度。

Hybrid SIMS仪器

1.使用ToF和Orbitrap^TM双分析器配置

2.超过静态SIMS极限的气体团簇高分辨成像和质谱测定

3.脉冲操作模式和直流操作模式

Thermo Scientific^TM

Q Exactive^TM HF

1.质量分辨率240,000 @ m / z 200

2.扫描频率高达18 Hz

3.质量精度<1 ppm

4.具有精确的预选择、最佳质量分辨率的碎片全谱和质量准确度的MS / MS

Hybrid SIMS

SIMS能够从无机和有机样品上的亚微米区域获取化学成分信息。从事生命科学应用研究的人员对于这种功能尤其感兴趣。近年来，在亚细胞水平上成像和准确识别分子的愿景一直在推动仪器及其应用的发展。

虽然新的离子源扩展了SIMS仪器在生物学方面的应用，但深入研究这类材料需要SIMS分析仪器具有更高质量分辨率、更高质量准确度和MS / MS联用功能。为此，IONTOF结合现有的TOF-SIMS与Q Exactive^TM，推出了具有最高质量分辨率（> 240,000）、最高质量精度（<1 ppm）和高分辨率的团簇源SIMS成像的Hybrid SIMS。新一代的Hybrid SIMS 仪器型号为 M6 Hybrid SIMS。

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