快来解锁引线框架工艺品控新助手！

引线框架是半导体封装的基础材料，是集成电路的芯片载体，借助于键合焊丝（金丝、铝丝、铜丝）实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接，形成电气回路的关键结构件，起到和外部导线连接的桥梁作用。

引线框架在生产环节，需要对电镀液的成分含量进行测定，这既是为了保证电镀质量达到工艺要求，也是为了合理使用电镀用的贵金属，控制生产成本。因此，电镀液的快速准确检测，对提高生产效率和降低成本至关重要。

作为国际领先的X射线分析仪器生产厂家，赛默飞世尔科技的高端ARL QUANT''X X射线荧光光谱仪，不仅在硬件配置上性能优异，而且对于“引线框架电镀液成分检测”的要求，开发了有针对性的解决方案，并在引线框架行业的头部企业中得到了应用和认可。针对不同客户的电镀液配方，ARL QUANT''X X射线荧光光谱仪能够生成相应的分析检测方案。在空气分析环境中，它可以在短时间内（通常10-30秒）快速分析出电镀液中贵金属元素的含量，且检测结果准确稳定，可以克服镀缸中随时加入药剂引起的基体波动，满足半导体引线框架行业的高标准分析需求。

使用赛默飞最新型号的ARL QUANT''X EDXRF，在空气条件下即可建立各种电镀液的分析方法。

Ni、Au、高浓度Ag、低浓度Ag和Pd元素的工作曲线情况如下

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从生产线随机取不同时间段的Ni、Au、高浓度Ag、低浓度Ag和Pd电镀液，分别在ICP和QUANT''X上进行测试。得到表1~5中的结果对比表。结果显示EDXRF测试值和ICP测试值一致性非常好。

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表6~10为Ni、Au、Ag、Pd电镀液的稳定性测试结果表。结果显示EDXRF测试各种电镀液的稳定性极佳。

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