赛默飞推出iCAP Qc ICP-MS测定高纯氧化钼中Cd等痕量杂质的解决方案

2018-11-10 15:04:09 赛默飞色谱与质谱分析


科学服务领域的世界领导者赛默飞世尔科技(以下简称:赛默飞)近日推出iCAPQc ICPMS 测定高纯氧化钼中Cd等痕量杂质的解决方案。钼具有耐高温,低膨胀系数,在合金中添加钼能起到耐热和耐腐蚀作用,并提高合金的强度,用于制造航空和航天的各种高温部件。尤其对于含高钼的镍基合金,除了主合金成份外,对于一些杂质元素的控制将严重影响合金的性能。

氧化钼和钼酸盐是化学和石油工业中的优良催化剂,为保证催化剂的性能也需要对重金属加以严格的控制。但在分析检测过程中,镉的所有同位素都会受到氧化钼的一价多原子离子干扰。

iCAP Qc ICP-MS

本方法将高纯氧化钼溶解于稀氨水中,采用iCAP Qc ICP-MS,分别采用高流量He气碰撞和CCT 氧气反应模式测定,通过Qtegra自动调谐功能,在Qcell加入高流量的氧气反应,将MoO转化为多氧化钼,将干扰质量数进行迁移,与Cd测定同位素分开,从而消除干扰,以满足高纯氧化钼中镉的测定。

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