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用于大件样品和多层膜样品的非破坏分析
M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪,可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围:原子序数22号(钛)-92号(铀)中的元素。分析的样品类型:各种不同材料,如金属、合金、块体、溶液等。
480×490×200mm3的大腔体支持更大样品的测量。自动X-Y-Z轴程控样品台,大移动范围200×175×80mm,支持自动多点测量。
M1 MISTRAL 是一款紧凑型的台式 μ-XRF 光谱仪,用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、成本效益, 可以提供与材料元素成分有关的准确信息。测定镀层样品厚度及成分例如Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu
珠宝及合金分析: M1 MISTRAL是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。珠宝合金、铂族金属及银制品、不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K(开)表示 M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪,可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围:原子序数22号(钛)以上的元素。分析的样品类型:各类不同的材料,如金属、合金、金属镀层包括多层镀层样品 样品尺寸*大可达100×100×100mm,无需任何处理,直接放在样品台上检测。光管位于样品上方,测量过程中部接触样品,因此可以很容易地分析复杂式样的样品,如精工细作的珠宝和不容厚度的样品。
各种应用介绍:
· 通用金属分析
M1 MISTRAL是通用金属镀层分析的理想工具,对紧固件、五金材料、汽车零部件镀层、高精度的机械部件都能进行准确、便捷的分析。· 电子/PCB采用X-Ray荧光技术的M1 MISTRAL也可分析薄镀层样品,如印刷电路板、引线框架、圆晶、连接器等,M2 BLIZZARD采用开放腔体,可对大型电路板进行测量。
· 珠宝及合金分析
M1 MISTRAL是珠宝。硬币及贵金属的理想分析工具。珠宝合金,30S就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K(开)表示。
M1 MISTRAL镀层测厚仪,M1 MISTRAL
M1 MISTRAL镀层测厚仪信息由铂悦仪器(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于M1 MISTRAL镀层测厚仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
MProbe系列薄膜测厚仪
M1 MISTRAL镀层测厚仪
M1 ORA微区X射线荧光光谱仪
大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD
布鲁克M4TORNADO高性能微区X射线荧光光谱仪
Ag/Cu镀层厚度分析 XRF确定单层与多层镀层系统厚度具有快速、精确以及“无损”特点,符合ISO3497、ASTMB568以及DIN50987试验方法。我们选用M1 MISTRAL测量Ag/C
Au-Ni/Cu镀层分析Au-Ni/Cu镀层广泛应用于电子行业-连接器、PCB出点、集成电路包装。Au镀层的用途是提供良好的电气接触,中间Ni层是避免Au与Cu基地相互扩散。在PSB上,Br可以阻燃。如果Br不溶解的话,
超薄Au-Pd-Ni镀层层厚分析在微电子行业,增加集成度意味着进一步微型化电子部件的大小和结构。这取决于这些结构功能镀层的物理尺寸和层厚。因此,质量保证过程中,对这些部件进行层后分析日益重要,挑战性越来越大,引线框架超薄
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本公司兹定于10月21日在北京唯实国际文化交流中心举办“材料表面分析研讨会.北京站”,现诚邀贵单位莅临和交流。会议时间2016年10月21日(9:00-13:30)会议论题邀请中科院、高校研究所等行业内知名专家进行交流布鲁克仪器应用专家报告在这里你能遇到众多行业用户,彼此分享经验、相互学习部分论题Bruker纳米表面仪器技术进展与应用案列 微区X射线荧光光谱仪在材料表面金属元素分析的应用本次会议,铂悦仪器将贴心为参会人员准备会议资料和午餐。会议地点北京唯实
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