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M1 ORA 是专门适用于珠宝行业的台式微区X射线荧光光谱仪(μ-XRF)。结构紧凑,占用空间小。技术参数:参数 规格光源 高性能微焦斑光管,钨靶,玻璃窗电压、功率 40 kV、40 W探测器 大面积正比计数器 1100mm2 感应面积光斑尺寸 0.3 - 1.0mm 准直管(出厂时设定)样品观察 高分辨彩色摄像系统,放大倍数20- 40倍样品台 手动剪式样品升降台定量分析 基于标准样品的经验模型基于基本参数法的无标样模型电源 230V/50 Hz, 100 W尺寸 355×330×330 mm重量 26 公斤主要特点:M1 ORA 能准确测定珠宝类合金的元素组成,分析元素范围:原子序数22号(钛)以上的所有元素。上照式光管,光斑尺寸小至0.3mm,可以对复杂式样的样品进行非接触、非破坏性的分析,数分钟内就可以得到结果。样品尺寸zei大可达100×100×100mm,无需任何处理,直接放在样品台上检测,采用光学显微镜进行准确定位。采用大感应面积的正比计数器接收样品发出的荧光信号。采集的信号越多,分析结果越精确。可以检测含量在0.5%以上的元素。基于标样模型或无标样模型,可以鉴别和定量分析样品中的所有元素。准确度高,精度达到0.2 wt%。对于没有预想到的元素也能够进行分析。黄金成色分析可以用K(开)或质量百分比(%)表示。XSpect 软件包提供以下功能:仪器控制、数据采集和处理谱峰识别组分定量分析,无标样法和基于标准样品的经验模型报告输出
珠宝、黄金、贵金属分析
珠宝与贵金属饰品的货币兼职不是主要由设计和制作人工决定、而是zei主要由合金中贵金属成分及宝石的种类和品质所决定。已知的几种合金分析方法,zei古老精确 的为火联发,首先采用高精度高密度天秤秤重一块原始金属,然后通过不同步奏(氧化和溶解)去除非金属物质,zei后秤重余量。但是这方法很好使,而且需破坏样 品,同事也产生很多有毒污染物和气体。
X射线荧光光谱仪是非基础是和非破坏性分析,同事能够得到高精确度测试结果的分析方法
由于珠宝首饰件通常都非常的小,又有些是采用不同贵属金组合,X射线荧光光谱仪分析过程能采用仪器内的准直器将激发的X射线集中于一小点,精确闫策样品成分。 X射线荧光光谱仪测量可广泛适用于大量的黄金合金系列,可测量材料包括金、银、铜、钯、铂、铑等贵金属元素黄金成分范围35%(8克拉/K)~100%(24克拉/K) 适用于:白金、黄金、铂合金、银合金、分析精度优于0.2%
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M1 ORA微区X射线荧光光谱仪,M1 ORA
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M1 MISTRAL镀层测厚仪
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Au-Ni/Cu镀层分析Au-Ni/Cu镀层广泛应用于电子行业-连接器、PCB出点、集成电路包装。Au镀层的用途是提供良好的电气接触,中间Ni层是避免Au与Cu基地相互扩散。在PSB上,Br可以阻燃。如果Br不溶解的话,
▼ 网页端 ▼https://appOxZJLe4w1571.h5.xeknow.com/st/99LQp9rqn复制链接在电脑端打开观看产品简介微区x射线荧光光谱分析技术是对大尺寸不规则、不均匀样品、甚至微小包裹体进行高灵敏度、非破坏性的元素分析方法。1. 矩形的真空室设计,样品无需制备,可直接放入舱内无损检测;2. 优化的X射线光路,小光斑直径降到20μm范围内,且提供高的束流;3. 多种仪器配置:可以选择增加了X射线管或探测器,以提高性能
本公司兹定于10月21日在北京唯实国际文化交流中心举办“材料表面分析研讨会.北京站”,现诚邀贵单位莅临和交流。会议时间2016年10月21日(9:00-13:30)会议论题邀请中科院、高校研究所等行业内知名专家进行交流布鲁克仪器应用专家报告在这里你能遇到众多行业用户,彼此分享经验、相互学习部分论题Bruker纳米表面仪器技术进展与应用案列 微区X射线荧光光谱仪在材料表面金属元素分析的应用本次会议,铂悦仪器将贴心为参会人员准备会议资料和午餐。会议地点北京唯实
铂悦仪器材料表面分析研讨会-上海站顺利举办 2016年4月8日,铂悦仪器材料表面分析研讨会系列会议首站上海站在上海富豪东亚酒店隆重举行,本次会议邀请众多专家和客户前来参加会议,现场响应热烈。铂悦仪器材料表面分析研讨会-上海站现场 此次研讨会由铂悦仪器市场部经理陈红主持,她对百忙之中抽空前来参加研讨会的各位专家、客户表示诚挚的感谢,并介绍了此次研讨会的议程和与会专家。
布鲁克S2 PUMA Series Ⅱ能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)
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