赛默飞最深入的材料分析透射电镜Talos F200X TEM
Talos F200X G2 TEM
适用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及准确化学定量的 TEM 显微镜。
Talos F200X G2 透射电子显微镜
Thermo Scientific Talos F200X STEM 是一款扫描透射电子显微镜，其将出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像与业界领先的能量色散 X 射线光谱 (EDS) 信号检测相结合。采用构合映射的 2D/3D 化学表征由具有独特清洁度的 4 个柱内 SDD Super-X 探头执行。Talos F200X 扫描透射电子显微镜在所有维度下均可实现极快速精准的 EDS 分析，以及在进行动态显微镜检查时实现导航快速的高分辨率 TEM 和 STEM（HRTEM 和 HRSTEM）成像。Talos F200X 扫描透射电子显微镜还具有较低的环境敏感度；仪器外壳可调节 TEM 室中空气压力波、气流和细微温度变化的影响。
STEM 成像与化学分析
Talos F200X (S)TEM 可在多维度下对纳米材料进行快速、精确的定量表征。由于具有旨在提高通量、精度和易用性的创新功能，Talos F200X (S)TEM 是院校、政府、半导体以及工业环境高级研究和分析的理想选择。
最近对在高分辨率下进行大面积相关性成像的需求有所增加，因为这使研究人员在获得统计学上稳定的数据的同时也能保留其观测结果的背景。Thermo Scientific Maps 软件（由 Thermo Scientific Velox 软件启用）自动采集样品的一系列图像，并将它们拼接在一起以形成一幅大尺寸最终图像。甚至可以在无人值守的情况下进行图像采集。 APW（自动化 颗粒工作流程） 包具有本节所述的所有优点，并利用 Thermo Scientific Avizo2D软件在专用处理 PC 上添加了独特的处理功能。您可以自动获取大小、面积、周长、形状、因子、接触点等纳米颗粒参数。全自动且无人值守软件包可使您全天候使用 Talos F200X (S)TEM ，获得更好的统计数据并显著改善可重复性（因为不存在操作员偏差）。
Align Genie 自动化软件减轻了新手操作员的学习负担，减少了多用户环境中的紧张气氛，并为经验丰富的操作员缩短了数据获得周期。
Talos F200X G2 透射电子显微镜功能
可搭配众多高分辨率场发射枪 (FEG)
选择高亮度 X-FEG 或超高亮度冷场发射枪 (X-CFEG)。X-CFEG 将极佳 (S)/TEM 成像及极佳能量分辨率相结合。
直观的软件
Thermo Scientific Velox 软件可实现对多模式数据的快速、轻松的采集和分析。
更短的化学成分获得周期
快速、精确的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示纳米级细节，同时保持高洁净度。
更好的图像数据
高通量 STEM 成像采用同步多信号检测，可为高质量图像提供更高的对比度。
更多空间
为动态实验添加特定用途的原位样品杆。
高质量 (S)TEM 图像和准确的 EDS
通过创新且直观的 Velox 软件用户界面采集高质量的 TEM 或 STEM 图像。Velox 软件中独特的 EDS 吸收校正功能可实现极准确的定量。
高度可重复的数据采集
所有日常 TEM 调整、例如聚焦、共心高度、电子束移位、冷凝器光阑、电子束倾斜枢轴点和旋转中心都是自动进行的，确保您始终从最佳成像条件开始工作。实验可以能够再现的方式重复进行，从而使您能够专注于研究而非仪器操作。
提高了生产率
超稳定的色谱柱、借助 SmartCam 的远程操作和恒定功率物镜，可进行快速模式和高电压 (HT) 切换。多用户环境的快速轻松切换。
性能数据
| HRTEM 线分辨率 | |
| STEM 分辨率 | |
| Super-X EDS 系统 | |
| 电子能量损失光谱 (EELS) 能量分辨率 | ≤0.8 eV (X-FEG) ≤0.3 eV (X-CFEG
|
| 200 kV 下的枪亮度 | |
赛默飞最深入的材料分析透射电镜Talos F200X TEM,Talos F200X TEM
赛默飞最深入的材料分析透射电镜Talos F200X TEM信息由赛默飞电子显微镜（原FEI）为您提供，如您想了解更多关于赛默飞最深入的材料分析透射电镜Talos F200X TEM报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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