激光扫描测量物镜

镓在巴黎由布瓦博得朗于1875年发现。他在闪锌矿矿石(ZnS)中提取的锌的原子光谱上观察到了一个新的紫色线。他知道这意味着一种未知的元素出现了。TESCAN AMBER 是 TESCAN 第四代 FIB-SEM 的新成员,是一款超高分辨双束 FIB-SEM 系统,它可以提供无与伦比的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以极佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和......

  开拓了激光显微镜的界限。   -总是值得信赖的影像和测量-   激光扫描显微镜的优势   非接触式、无损、快速成像和测量   ○ 非接触式、无损测量   激光扫描显微镜(LSM)采用低功率激光,不接触样品。因此,不像基于探针系统的接触式表面粗糙度测量仪那样存在损坏样品的风险。   ○ 无需前期准备即可......

原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数,也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中,少子寿命决定了少子扩散长度, 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数;载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响,抑或是存在污染, 进行失效分析,对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下,处于热平衡状态的半导体材料,电子-......

快速扫描测量系统

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Santec 激光产品

型号:快速扫描测量系统

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快速扫描测量系统整合了TSL 可调谐激光器、MPM 光功率计、PCU 偏振控制器及根据用户需求自定义的软件,为R&D 及生产环境的IL、WDL、PDL 测试提供快速、多功能、全自动的平台。系统同时采集可调谐光源的输出功率及DUT 透过的光功率作实时参比,获取高精度的IL、WDL 以及PDL(采用Muller 矩阵方法)。性能优势• 实时功......

压电 · ⼤范围扫描运动 — Carrier.S100-OB.Z室温 ·压电运动⽅案 —“Carrier. 系列“ ⼤⾏程扫描载物台 — 精密光学,半导体表征Carrier.S100-OB.Z 物镜⾃动对焦扫描台产品特⾊• 两维度XY 扫描运动 200 um × 200 um;• 闭环定位精度优于 1nm;• 最⼤负载 500 ......

物镜Z轴纳米扫描台

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昊量光电 其它光学测量仪

型号:Objective_Scanning_Mechanism

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物镜Z轴纳米扫描台 双传感器超高精度物镜扫描台!AU-OSM-Z系列单轴压电扫描台采用压电陶瓷直推驱动,以柔性铰链为运动副,使其具有结构紧凑、体积小、无机械摩擦、定位分辨率高等优点。全行程采用电容位移传感器闭环反馈设计,精度可达到亚纳米量级。采用革命性双传感器技术,这一尖端的控制技术与以往相比,可实现更快、更准确以及更稳定的显微镜物镜聚焦。&nbs......

徕卡订制显微镜物镜类型

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徕卡 显微镜附件

型号:订制开发型物镜

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标准物镜还是订制开发型物镜?除了一流的标准应用物镜之外,徕卡显微系统还提供的更多的物镜选择,包括为特定应用优化特性的物镜。例如,用于活细胞成像的水镜和油浸渍物镜、用于多光子激发的色差校正物镜、用于透明化样本的物镜,以及从周围组织分离并获取单个细胞或染色体的激光显微切割用的物镜。物镜类别视场平坦度聚焦绝对值应用消色差物镜最大23毫米红色和蓝色波长之间(2 种颜......

实现无缝连接使用我们的系统,将能够在条码阅读器、秤、分拣器和摄像机之间自动传输数据,是优化操作标准的正确之选。嵌入式OCTO DataCapture™软件可管理来自各个组件的数据,将体积测量仪转换为全面的数据采集解决方案实现更高收入体积测量仪的读取率对包裹承运商和配送中心的利润有着明显的影响,尤其是要处理的包裹比以往任何时候都多时。 利用高精度大型......

改善处理流程快速测量和自动数据传输意味着,操作不会放缓,消除人为错误,实现高效的处理流程并增加收入。测量任何形状和表面三个体积测量头从各个角度观察被测物体,确保采集到每个细节,同时宽反射范围可测量任何表面。 我们的系统可精确测量任何形状和任何表面,较大限度地增加收入。旨在轻松安装与维护我们经验丰富的技术人员将立即启动并运行您的系统,无外部移动部件,将较大限度......

点击查看下载激光粒度仪岛津激光衍射粒度仪 SALD系列测量范围表相关资料,进一步了解产品。 SALD系列包含多款产品,适合多种粒度范围测量。请根据您的测量范围选择更佳型号 采用高灵敏度传感器元件。      采用高水准技术制造的79元件的前方散射光传感器,并配置侧面散射光传感器1个元件以及后方散射光传感器4个......

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