氧化铝粉三网均价
使用赛默飞世尔科技™元件 GD Plus™ GD-MS 重新定义直接在固态下分析先进高纯度材料。对于高通量和超低ppb级检测限，Element GD Plus GD-MS是常规和研究应用中散装金属分析和深度剖析的最方便、最强大的工具。Element GD Plus GD-MS能够以相同的灵敏度和数据质量分析元素周期表中几乎所有的导电和非导电材料元素。通过专用......
固体样品中存在的几乎所有元素都可以常规检测和定量：许多元素可低至十亿分之一（ppb）水平。高生产率和低分析成本Element GD Plus GD-MS旨在以高样品通量提供出色的灵敏度和准确度，从而大大降低分析成本。快速流动离子源用户友好的源设计：< 1 分钟样品更换泵送时间短：< 10 分钟样品周转时间高样品通量：高达 5 个样品/小时更少的样......
突出特点斜入射双镜头技术：百特专利技术，采用激光斜入射技术，结合前向、侧向和后向散射光探测技术，达到全角度测量，扩大了测量范围，提升了细颗粒端的测量精度，提升了分辨率。（发明专利名称：一种斜入射激光粒度仪；专利号：ZL201210035888.3）显微图像与激光散射二合一技术：激光法测试细颗粒具有优势，图像法测试粗颗粒准确度高，采用激光与图像联合测试属于强强......
应用领域 主要适用于干法粉体生产领域，如水泥、碳素、氧化铝粉、镁粉、铝粉、高氯酸铵、制药、精细化工等领域。适应的设备主要包括水泥磨、立磨、气流磨、环滚磨、雷蒙磨等。突出特点实时控制功能：本系统除进行监测粒度外，还具有控制功能。控制的方式是将监测的粒度数据与标准粒度数据做运算，......
使用赛默飞世尔科技™元件 GD Plus™ GD-MS 重新定义直接在固态下分析先进高纯度材料。对于高通量和超低ppb级检测限，Element GD Plus GD-MS是常规和研究应用中散装金属分析和深度剖析的最方便、最强大的工具。Element GD Plus GD-MS能够以相同的灵敏度和数据质量分析元素周期表中几乎所有的导电和非导电材料元素。通过专用......
精微高博氧化铝比表面快速测试仪JW-DX适用于比表面积测试项目，参考多项行业标准。可以检测金属粉末/铝粉等样品。可应用于冶金行业领域。 测试范围： 比表面0.01m2/g至无上限；重复精度： 比表面积≤± 1.0%；测试效率： 平均每个样品5min，测试结果由软件自动实时得出；分析站： 4个；升降系统： 4......
精微高博比表面JW-DX可用于测定金属粉末/铝粉，适用于比表面积测试项目。并且参考多项行业标准。可应用于冶金行业领域。 测试范围： 比表面0.01m2/g至无上限；重复精度： 比表面积≤± 1.0%；测试效率： 平均每个样品5min，测试结果由软件自动实时得出；分析站： 4个；升降系统： 4个样品位原位设有......
精微高博化工原料比表面快速测试仪JW-DX可以用在冶金行业领域，用来检测金属粉末/铝粉，可完成比表面积测试项目。符合多项行业标准。 化工原料比表面快速测试仪bet比表面积仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪，JW发明专利，创新的结构，每个样品单独吸附，互不干扰，吸附峰尖锐，灵敏度大大提高，通过吸附峰直接对比得到比表面，测试准确......
新仪微波萃取MASTER可用于测定钨铝粉，适用于微波消解钨铝粉项目。并且参考多项行业标准见资料。可应用于多个行业领域。 钨铝粉是钨粉中以Al2O3的形式掺入铝而制备的一种掺杂钨粉，其铝含量很少， 可利用脉冲加热库仑定氧法测定其中的氧含量。钨铝粉应密封保存于干燥、阴凉的环境中，不宜长久暴露于空气中，防受潮发生团聚，影响分散性能和使用效果。为检测钨铝粉中的金属元......
新仪赶酸器ECH-II/ECH-20/ECH-20D/TK12/TK40可用于测定钨铝粉，适用于微波消解钨铝粉项目。并且参考多项行业标准见资料。可应用于多个行业领域。 钨铝粉是钨粉中以Al2O3的形式掺入铝而制备的一种掺杂钨粉，其铝含量很少， 可利用脉冲加热库仑定氧法测定其中的氧含量。钨铝粉应密封保存于干燥、阴凉的环境中，不宜长久暴露于空气中，防受潮发生团聚......