sem背散射离子
使用 Thermo Scientific™ QUASOR™ 电子背散射衍射同时轻松获得 EBSD 数据和 EDS/WDS 全谱图像。 QUASOR 电子背散射衍射用于表征晶体结构特征，该特征决定了扫描电子显微镜 (SEM) 和 X-射线微区分析所分析的多种材料的物理性质。作为 Thermo Scientific™ NORAN™ 7 系统平台的全面集......
使用 Thermo Scientific™ QUASOR™ 电子背散射衍射同时轻松获得 EBSD 数据和 EDS/WDS 全谱图像。 QUASOR 电子背散射衍射用于表征晶体结构特征，该特征决定了扫描电子显微镜 (SEM) 和 X-射线微区分析所分析的多种材料的物理性质。作为 Thermo Scientific™ NORAN™ 7 系统平台的全面集......
背散射 X射线管TUB00205/2 (140kv 7W)光管是背散射成像和传统透射成像理想的射线源。TUB00205/2能够在140kV(*大)下运行，其体积小、重量轻，可以封装到客户外壳中. 型号 TUB00205 TUB00202 出束口形状 Fan Cone ......
点击查看下载赛默飞FIB-SEM（原FEI）冷冻聚焦离子束显微镜 锂电池行业应用解决方案相关资料，进一步了解产品。 锂离子电池性能优良，已经广泛应用于小型电子产品中，在电动汽车和混合电动汽车领域以及储能领域也在不断发展中，这对保持环 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cr......
点击查看下载Aquilos 2 Cryo-FIB（原FEI）冷冻聚焦离子束显微镜FIB-SEM 应用于电池/锂电池相关资料，进一步了解产品。 锂离子电池性能优良，已经广泛应用于小型电子产品中，在电动汽车和混合电动汽车领域以及储能领域也在不断发展中，这对保持环 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（......
点击查看下载FIB-SEM赛默飞（原FEI）冷冻聚焦离子束显微镜 金属行业微观分析解决方案相关资料，进一步了解产品。 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。核心优势:为使用......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 使用离子束制备SEM样品：EM TIC 3X三离子束研磨仪
参考成交价格： 100~200万元[人民币]
型号：Leica EM TIC 3X
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 使用离子束制备SEM样品：EM TIC 3X三离子束研磨仪针对不同使用环境，有着不同的操作与维护流程，点击查看操作维修手册。 如今，离子束蚀刻技术是应用最广泛的电子显微镜样品制备方 法。在蚀刻过程中，高能氩离子束轰击样品，并根据其应用领域 调整 离子束能量和切割角度。 在制备扫描电子显微......
赛默飞Helios 5 DualBeam 聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）
参考成交价格： 暂无
Thermo Scientific 双束聚焦扫描电镜（FIB-SEM）
型号：Helios 5 DualBeam
DUALBEAM 显微镜Helios 5 DualBeam用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作，简单易用，并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。新一代 Thermo Scientific Helios 5 DualBeam 具有 Helios DualBeam 显微镜产品系列领先业界的高性能电子显微镜成像......