sem背散射
■技术参数 分辨率：20nm(30kv,BSE Image) - 放大倍率:30x ~ 30,000x - 加速电压:5 ~ 30kV (5/10/15/20/30kV - 5 step) ■图像 背散射电子图像（BSEI），适用于非导体样品 ■规格 &......
使用 Thermo Scientific™ QUASOR™ 电子背散射衍射同时轻松获得 EBSD 数据和 EDS/WDS 全谱图像。 QUASOR 电子背散射衍射用于表征晶体结构特征，该特征决定了扫描电子显微镜 (SEM) 和 X-射线微区分析所分析的多种材料的物理性质。作为 Thermo Scientific™ NORAN™ 7 系统平台的全面集......
使用 Thermo Scientific™ QUASOR™ 电子背散射衍射同时轻松获得 EBSD 数据和 EDS/WDS 全谱图像。 QUASOR 电子背散射衍射用于表征晶体结构特征，该特征决定了扫描电子显微镜 (SEM) 和 X-射线微区分析所分析的多种材料的物理性质。作为 Thermo Scientific™ NORAN™ 7 系统平台的全面集......
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
■技术参数 分辨率：20nm(30kv,BSE Image) - 放大倍率:30x ~ 30,000x - 加速电压:5 ~ 30kV (5/10/15/20/30kV - 5 step) ■图像 背散射电子图像（BSEI），适用于非导体样品 ■规格 &nb......
QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是分析 SEM 中纳米材料的理想化解决方案。原因如下：提供 1.5 nm 的空间分辨率在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案全自动内置 ARGUS 成像系统......
背散射 X射线管TUB00205/2 (140kv 7W)光管是背散射成像和传统透射成像理想的射线源。TUB00205/2能够在140kV(*大)下运行，其体积小、重量轻，可以封装到客户外壳中. 型号 TUB00205 TUB00202 出束口形状 Fan Cone ......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......
QUANTAX EBSD是用于扫描电子显微镜（SEM）的整套分析解决方案，包括一个EBSD硬件和ESPRIT软件。QUANTAX EBSD具有全系列探测器选项，包括全新的革命性的eWARP探测器，具有高灵敏度的高速EBSD探测器。eWARP从EBSD的第一性原理出发，设计的像素点是有史以来第一个由像素化传感器供电的探测器，该传感器从零开始设计时就考虑到了EB......