仪器简介:ASTM D5796唯一指定仲裁法测量涂层厚度的仪器,可多层测量,同时得到结果。技术参数:DJH Crater Film Thick System测厚仪 DJH 公司由Doug Henderson于1989年9月于加拿大安大略湖创建。由于DJH的能力,设计及提供的解决客户应用的方案以及质量及设计上的创新非常适合客户的需求......
◆库仑法测厚。 ◆测量范围:0~35μm(厚度超过35μm,误差会逐渐变大)。 ◆测试误差:≤10%。 ◆分辨率:金、装饰铬0.01μm;其他0.1μm。 ◆测量zei小面积:平面φ3mm、柱面直径φ6mm(更小面积请事先提出)。 ◆测量镀种:铬、镍、铜、锌、锡、银、金、镉、镍磷合金、铬/镍......