俄歇电子能谱标准
ELS100型：（电子损失谱专用） ¨ Low Energy Electron Gun designed for Electron Loss Spectroscopy(ELS) ¨ Beam Energy variable 5 to 100eV ¨ Low Energy Spread ~ 0.25eV FWHM us......
仪器简介：美国专利 日本技术 90%市场占有率 是金属/半导体材料研发和故障分析的有力工具。空间分辨率高，信息深度5纳米以内技术参数：俄歇电子能谱仪 • He以上所有元素纳米（约5nm）表面定性/表面定量/亚表层以及深度方向信息 1） 成分 2） 图像 3） DETECT LIMIT 0.1% ......
服务详情俄歇电子能谱（Auger electron spectroscopy，简称AES），是一种表面科学和材料科学的分析技术。因此技术主要借由俄歇效应进行分析而命名之。这种效应系产生于受激发的原子的外层电子跳至低能阶所放出的能量被其他外层电子吸收而使后者逃脱离开原子，这一连串事件称为俄歇效应，而逃脱出来的电子称为俄歇电子。1953年，俄歇电子能谱逐渐开始被......
岛津X光电子能谱XPSAXIS SUPRA+可用于测定 膜材料 ，适用于其他 项目。并且参考多项行业标准/ VBA。可应用于多个行业领域。 岛津AXIS Supra具备全自动传样系统，样品预抽时便可进行目标测试位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪，单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析，低能团簇模式适用于常规有机物的刻蚀分析，20 kV最大......
岛津X光电子能谱XPSAXIS SUPRA+可以用在多个行业领域，用来检测 膜材料 ，可完成其他 项目。符合多项行业标准/ VBA。 岛津AXIS Supra具备全自动传样系统，样品预抽时便可进行目标测试位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪，单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析，低能团簇模式适用于常规有机物的刻蚀分析，20 kV最大团簇能......
岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+参考多项行业标准/ VBA。完成 膜材料 的检测。可以用在多个行业领域中的其他 项目。 岛津AXIS Supra具备全自动传样系统，样品预抽时便可进行目标测试位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪，单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析，低能团簇模式适用于常规有机物的刻蚀分析，20 ......
岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+用于测定膜材料 ，符合行业标准/ VBA。适用其他 项目。 岛津AXIS Supra具备全自动传样系统，样品预抽时便可进行目标测试位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪，单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析，低能团簇模式适用于常规有机物的刻蚀分析，20 kV最大团簇能量可以保证无机......
岛津X光电子能谱XPSAXIS SUPRA+适用于厚度 项目，参考多项行业标准/ VBA。可以检测石墨烯薄膜 等样品。可应用于多个行业领域。 石墨烯在材料学、微纳加工、能源、生物医学和药物传递等方面具有重要的应用前景。本文通过XPS（X射线光电子能谱）成像对Si片上沉积的石墨烯进行了分析，通过选区采谱对石墨烯表面元素含量进行了分析，并对石墨烯薄片厚度进行了推......
岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+可以用在多个行业领域，用来检测石墨烯薄膜 ，可完成厚度 项目。符合多项行业标准/ VBA。 石墨烯在材料学、微纳加工、能源、生物医学和药物传递等方面具有重要的应用前景。本文通过XPS（X射线光电子能谱）成像对Si片上沉积的石墨烯进行了分析，通过选区采谱对石墨烯表面元素含量进行了分析，并对石墨烯薄片厚......
岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+用于测定石墨烯薄膜 ，符合行业标准/ VBA。适用厚度 项目。 石墨烯在材料学、微纳加工、能源、生物医学和药物传递等方面具有重要的应用前景。本文通过XPS（X射线光电子能谱）成像对Si片上沉积的石墨烯进行了分析，通过选区采谱对石墨烯表面元素含量进行了分析，并对石墨烯薄片厚度进行了推测。 上市时间：2......