非接触三维轮廓仪
TRView X系列非接触式引伸计，采用CCD摄像传感器检测样品上标线之间的变位。 TRView XS采用1个镜头和1个CCD传感器，TRView XD采用2个镜头和2个CCD传感器。本引伸 计适合布、纸、薄膜、箔及高低温环境箱内不能安装接触式引伸计的样品进行轴向、径向 的变形测量，并......
NPFLEX三维计量系统为骨科医学植入物等大样本以及航空航天、汽车和精密机械加工行业中的较大部件提供了最灵活、最不接触、最三维的表面特征。它提供了数据密度、分辨率和重复性，超出了接触式仪器的可能，使其成为一种互补的技术或独立的计量解决方案。无与伦比的计量灵活性NPFLEX是专为调查广泛变化的样本大小和形状而设计的，而不损坏样品。不敏感的材料类型，该系统的WL......
结合了十多年的包装光学特性专门知识，CONTESSP大型面板计量系统使高密度互连PCB(HDI-PCB)基板的测量吞吐量比上一代WLI仪器提高了一倍以上。该系统专门设计用于测量制造过程中PCB面板的每一层，并包含了一系列先进的功能，为半导体封装行业提供了最大的生产性能、方便、可靠性和吞吐量。具有量规能力的Confee SP使用了一个直观的生产界面，提供了......
仪器简介：提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置......
仪器简介：该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半导体材料、太阳能电池、膜厚、光学元件、陶瓷和先进材料的研发和生产提供了一个精确的、价格合理的计量方案。 这款产品凭借其当今世界zei前端的技术,......
仪器简介：美国NANOVEA公司的三维非接触式表面形貌仪 三维光学轮廓仪(3D Profiling) 该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，......
仪器简介：利用光位相干涉测试原理对测试样品进行3次元/2D检测，对样品非接触，非破坏性测试；可各种材料进行表面粗糙度，翘曲度，薄膜应力，厚度，高度，段差，宽度，体积，断面积，2D测定。。进行检测。 广泛应用于FPD（平板行业），IC封装，PCB，半导体/MEMS，工程材料表面。。。。技术参数：-测试方法：WSI/PSI -Interferom......
仪器简介：NANOVEA的表面测量系统适用于研发和生产过程控制中的定性和定量测量，测量分辨率达到纳米级，其强大且友好的软件控制使所需获得的数据不仅速度快，而且精度高，并提供了多种不同的表面分析方法，与系统匹配的软件包含参数设定(如扫描尺寸、线数、步进、转换台速度、数据采样速度)和数据后处理功能(如快速傅立叶变换、自相关功能、三维成像、二维切片成像......
仪器简介：提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽......