电镜系统
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统电子显微分析是材料和生命科学微观分析中zei重要的一环，而元素分析是其中zei重要的表征手段之一，但标准的分析手段如能谱仪和波谱仪存在很多不足，例如因灵敏度不足、空间分辨率较差，无法进行轻元素、微量元素的分析，无法分辨同位素等等，普通的分析手段已不能满足现阶段应用......
[ 产品详情 ]蔡司关联扫描电镜—拉曼成像系统RISE，将共聚焦拉曼成像系统（CRM）集成在SEM舱室中。此RISE系统具备CRM和SEM两套设备的所有功能，集成的关联系统使样品在SEM和Raman系统之间实现自动化无缝移[1]动，在整个移动和测量过程中，样品始终处于真空环境中。针对合适的样品，将SEM图像、能谱数据与Raman成像进行关联，可对样品进行3D......
全自动夹杂物分析系统简介 OTS全自动钢中非金属夹杂物分析系统是一套集扫描电子显微镜（扫描电镜）、大面积高速能谱探测器、夹杂物自动分析软件以及样品洁净度评 价及建议为一体的综合性分析系统。该系统不仅具有完备的电子光学成像系统，能对钢中非金属夹杂物的微观形貌进行清晰观察，而且配有 业界领先的大面积高速X射线能谱仪，自动对试样选定区域内所有钢中非金属夹......
PicoFemto扫描电镜原位气氛加热环境测量系统，将MEMS气氛环境微腔和加热模块集成到扫描电镜样品台上，在扫描电镜中制造可控的气氛环境并且可以对实验样品原位加热。PicoFemto扫描电镜原位气氛加热环境测量系统，将MEMS气氛环境微腔和加热模块集成到扫描电镜样品台上，在扫描电镜中制造可控的气氛环境并且可以对实验样品原位加热。该系统允许研究者在气氛环境中......
PicoFemto SFP3 SEM纳米力测量将纳米压痕仪集成进扫描电镜中，使用户可以在扫描电镜中进行原位纳米压痕研究。PicoFemto SFP3 SEM纳米力测量将纳米压痕仪集成进扫描电镜中，使用户可以在扫描电镜中进行原位纳米压痕研究。该系统由一个三维压电驱动的样品台和一个纳米力测量探针组成。样品安装方式灵活多样，可在三维纳米位移台的驱动下，达到超过5 ......
PicoFemto扫描电镜原位液体-电化学测量系统，采用全新的O圈辅助密封设计,攻克了以往原位液体解决方案装样困难的问题。PicoFemto扫描电镜原位液体-电化学测量系统采用全新的O圈辅助密封设计，攻克了以往原位液体解决方案装样困难的问题。实验中，样品被密封在超薄氮化硅薄膜覆盖的液体池内，池内可以承载一个大气压。芯片电极联通外接电路，从而在扫描电镜中搭建一......
PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统,同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块,可以在对样品1000 ℃加热的同时进行定量的力学测量。PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统，同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块，可以在对样品1000 ℃加热的同时进行定量的力学测量。MEMS芯片模块上可以选择加热芯片，也可以选择电学测量芯片。力学测量模块......
拉曼-SEM使您能够在一台系统内全面地原位表征样品性能。两种技术的联用重新定义了便捷、效率和生产力。 雷尼绍结构与化学成分分析仪 (SCA) 接口使扫描电镜 (SEM) 具有了inVia的拉曼点测量和成像能力。 拉曼+SEM inVia和SCA接口提供了一种SEM内部分析技术，既补充了以光学显微镜为基础的拉曼光谱，又克服了X射线能量散射谱 (E......
点击查看下载扫描电镜 双束加工观察系统日本电子 样本相关资料，进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者，近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好，稳定性强且智能化程度高，操作得心应手，是材料表征和分析的绝佳选择。 JIB-4700F 双束加工观察系统随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨......
拉曼电镜光谱联用技术产品简介扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，实现对物质微观形貌表征的目的。具有景深大、分辨率高，成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。拉曼技术在分子级别上提供样品的化学结构、组分信息；而 SEM 可在纳米尺度上提供......