电镜系统

TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统

参考成交价格: 1000~2000万元[人民币]

泰思肯 二次离子质谱

型号:FIB-SEM-TOF-SIMS

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TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统电子显微分析是材料和生命科学微观分析中zei重要的一环,而元素分析是其中zei重要的表征手段之一,但标准的分析手段如能谱仪和波谱仪存在很多不足,例如因灵敏度不足、空间分辨率较差,无法进行轻元素、微量元素的分析,无法分辨同位素等等,普通的分析手段已不能满足现阶段应用......

全自动夹杂物分析系统简介  OTS全自动钢中非金属夹杂物分析系统是一套集扫描电子显微镜(扫描电镜)、大面积高速能谱探测器、夹杂物自动分析软件以及样品洁净度评 价及建议为一体的综合性分析系统。该系统不仅具有完备的电子光学成像系统,能对钢中非金属夹杂物的微观形貌进行清晰观察,而且配有 业界领先的大面积高速X射线能谱仪,自动对试样选定区域内所有钢中非金属夹......

拉曼-SEM使您能够在一台系统内全面地原位表征样品性能。两种技术的联用重新定义了便捷、效率和生产力。 雷尼绍结构与化学成分分析仪 (SCA) 接口使扫描电镜 (SEM) 具有了inVia的拉曼点测量和成像能力。 拉曼+SEM inVia和SCA接口提供了一种SEM内部分析技术,既补充了以光学显微镜为基础的拉曼光谱,又克服了X射线能量散射谱 (E......

二次离子质谱(secondary ion mass spectroscopy),是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器,它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面,使样品表面的分子吸收能量而从表面发生溅射产生二次离子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子,就可以得到关于样品表面信息的图谱。TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS......

徕卡冻干机Leica EM VCT500适用于电镜制样产品资料项目,参考多项行业标准。可以检测电镜制样产品等样品。可应用于多个行业领域。 先进的样品传输系统在将样品传输到分析系统的样品室时,必须要保护样品不受污染。专注干电镜制样流程解决方案,徕卡显微系统开发了这套先进的真空传输系统,提供各种样品的传输选项。用户可以依靠一个系统进行无缝连接工作∶传输系统及徕卡......

点击查看下载扫描电镜 双束加工观察系统日本电子 样本相关资料,进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者,近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好,稳定性强且智能化程度高,操作得心应手,是材料表征和分析的绝佳选择。 JIB-4700F 双束加工观察系统随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化,形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨......

点击查看下载OTS一键夹杂物分析系统扫描电镜 其他资料相关资料,进一步了解产品。   3.大样品室可具备更多的电镜接口位置,可提升电镜升级空间。  4.大样品室电镜所需要配置更为高端的减震系统和高端的真空系统,以保证大样品室的样品观察。  5.5轴马达台可实现样品全自动多角度控制。准确性  吸取东北大学多年从事冶金行业教学研究的专家学者多年来在夹杂物分析鉴......

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拉曼电镜光谱联用技术产品简介扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品,实现对物质微观形貌表征的目的。具有景深大、分辨率高,成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。拉曼技术在分子级别上提供样品的化学结构、组分信息;而 SEM 可在纳米尺度上提供......

专为高性能的单粒子分析而设计,低温电子断层成像(Cryo-ET)和微晶体电子衍射(MicroED),Thermo Scientific Krios 5 低温透射电子显微镜(Cryo-TEM)能够通过专注于数据精确度,快速生成高质量的结构。增强的常规对齐自动化、改进的光学精确度,以及 Thermo Scientific Smart EPU 软件的 AI 辅助功......

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