激光实验室标准
点击查看下载激光粒度仪岛津激光衍射粒度仪 样本相关资料，进一步了解产品。 SALD系列包含多款产品，适合多种粒度范围测量。请根据您的测量范围选择更佳型号 采用高灵敏度传感器元件。 采用高水准技术制造的79元件的前方散射光传感器，并配置侧面散射光传感器1个元件以及后方散射光传感器4个元件，共计84个元......
荧光显微镜快速转盘激光共聚焦系统 Leica SD AF 标准有特定规范与标准，应用于多个行业领域。点击查看相关规范标准。 由于涂层在工程和科学领域中广泛应用，因此薄膜表征技术备受青睐。薄膜的机械、功能和几何特 性差异很大，难以找到通用的表征技术。共聚焦显微镜技术和干涉光学分析是可以用于这方面的少 数方法之一。本报告介绍如何测量各种薄膜的厚度、残余应力、粘附......
TCS SP8 SMD徕卡激光共聚焦 标准有特定规范与标准，应用于多个行业领域。点击查看相关规范标准。 由于涂层在工程和科学领域中广泛应用，因此薄膜表征技术备受青睐。薄膜的机械、功能和几何特 性差异很大，难以找到通用的表征技术。共聚焦显微镜技术和干涉光学分析是可以用于这方面的少 数方法之一。本报告介绍如何测量各种薄膜的厚度、残余应力、粘附力和粗糙度，以及这种......
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Leica TCS SP8 X激光共聚焦德国 共聚焦显微镜 TCS SP8 X 全光谱特征图像，配白激光 标准有特定规范与标准，应用于多个行业领域。点击查看相关规范标准。 由于涂层在工程和科学领域中广泛应用，因此薄膜表征技术备受青睐。薄膜的机械、功能和几何特 性差异很大，难以找到通用的表征技术。共聚焦显微镜技术和干涉光学分析是可以用于这方面的少 数方法之一。......
激光共聚焦徕卡Leica TCS SP8 DLS 标准有特定规范与标准，应用于多个行业领域。点击查看相关规范标准。 由于涂层在工程和科学领域中广泛应用，因此薄膜表征技术备受青睐。薄膜的机械、功能和几何特 性差异很大，难以找到通用的表征技术。共聚焦显微镜技术和干涉光学分析是可以用于这方面的少 数方法之一。本报告介绍如何测量各种薄膜的厚度、残余应力、粘附力和粗糙......
新一代共聚焦成像系统 STELLARIS激光共聚焦 标准有特定规范与标准，应用于多个行业领域。点击查看相关规范标准。 由于涂层在工程和科学领域中广泛应用，因此薄膜表征技术备受青睐。薄膜的机械、功能和几何特 性差异很大，难以找到通用的表征技术。共聚焦显微镜技术和干涉光学分析是可以用于这方面的少 数方法之一。本报告介绍如何测量各种薄膜的厚度、残余应力、粘附力和粗......
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德国 共聚焦显微镜Leica TCS SP8激光共聚焦 标准有特定规范与标准，应用于多个行业领域。点击查看相关规范标准。 由于涂层在工程和科学领域中广泛应用，因此薄膜表征技术备受青睐。薄膜的机械、功能和几何特 性差异很大，难以找到通用的表征技术。共聚焦显微镜技术和干涉光学分析是可以用于这方面的少 数方法之一。本报告介绍如何测量各种薄膜的厚度、残余应力、粘附力......