合金分析仪 通
原理区别 X-射线荧光光谱法，是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪(WD-XRF)是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素......
结构区别 波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF)，一般由光源(X-射线管)、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X-射线管的功率要大，一般为2～3千瓦。但X-射线管的效率极低，只有1%的电功率转化为......
仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。 天瑞仪器公司是全球专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇全球领先的合金分析技术，配备合金......
能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近，X-射线的利用率很高，不需要光学聚集，在累积整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。 天瑞仪器公司是全球专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇全球领先的合金分析技术，配备合金测试效果zei佳......
X 射线荧光光谱法，是用X 射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪 (WD-XRF) 是用分光品体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征 X 射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。 完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析 应用新一代的高压电源和X光管，提供了产品的可靠性 利用......
而能量色散型荧光光仪(ED-XRF) 是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X 射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。 完全满足于黄铜成分分析以及其他金属样品的成分分析 应用新一代的高压电源和X光管，提供了产品的可靠性 利用新X光管提高仪器的测试效率......
POROLUX Cito系列是气液通孔分析仪 (GLP)，可根据压力扫描方法确定孔径。这是一种快速但可重复的方法，气压不断增加，同时记录所得流量。该仪器可在整个压力范围内以高精度测定泡点、平均流量孔径、最小孔径、孔径分布、累积流量分布和气体渗透率。POROLUX Cito L&M 是研发和质量控制环境中的参考，用于表征具有较大孔隙的介质，例如非织造布......
POROLUX Revo 是通孔分析仪的革新产品。 POROLUX Revo 采用专利的 MP²（多级压力工艺）技术，为步进/平衡型方法树立了标杆，能够以高分辨率提供准确、可重复的孔径测量。得益于其先进的软件，使用 POROLUX Revo 分析过滤介质非常简单。内置智能和重新评估功能等独特功能使该仪器使用起来非常愉快。POROLUX Revo 是表征各种具......
技术指标：● 可测量孔径范围从约 80 nm 到 500 µm● 测量最大孔径（泡点）、平均流量孔径、最小孔径、孔径分布、累积流量分布、气体渗透率等。液体渗透率和流体源是可选的。通过我们增强的数学模型，可以获得以下附加结果：- 总孔数目- 总孔面积（％和μm²）- 开孔孔隙率- 计算的渗透率（达西）● 标准压力范围为 0-8 bar（116 psi），流速高......