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布鲁克推出手持式LIBS分析仪EOS500用于分拣轻元素合金废料

发布时间: 2015-10-20 00:00 来源:铂悦仪器(上海)有限公司

布鲁克推出手持式LIBS分析仪EOS500用于分拣轻元素合金废料

     近日,布鲁克公司推出EOS 500手持式激光诱导击穿光谱仪(HH-LIBS),可用于金属和合金的高速分析,提供等级鉴定和含锂、镁、铝或硅的轻元素合金的化学分析。EOS 500是专为Li、Mg、Al 、Si轻元素合金的快速化学分析所设计。速度、精度和重复性等方面,EOS 500有着自己的优势。与手持式X射线光谱仪相比,EOS 500的分析速度大约快10倍。

     手持式激光诱导击穿光谱仪(HH-LIBS)EOS 500适合于质量控制(QA)、金属加工和材料可靠性鉴定(PMI),是废品回收相关行业对耐久性的要求。坚固的设计确保了EOS 500能够承受在几乎所有的环境下进行现场操作,包括潮湿和灰尘的条件。此外,EOS 500有一个独特的气体光学护罩,在光学系统的前面创建了一个连续的气体保护罩,防止灰尘积聚并允许EOS 500在最严苛的环境中运作。

    手持式激光诱导击穿光谱仪(HH-LIBS)EOS 500使用专有的低背景激光消融原子发射光谱1064纳米波长激光。传统LIBS系统一般利用高能、低频激光等离子体发生器,导致高背景噪音、尤其是在频 谱的低端。布鲁克专有的1064纳米激光能够产生强烈的原子发射信号,同时不会产生高背景噪音,因此不再需要复杂的浇注系统。利用这种独特的设计,布鲁克 的 EOS 500可以很容易地在几秒钟内、分析< 0.1%浓度水平、具有挑战性的元素,如Si、Mg。

    多探头的设计允许EOS 500覆盖从170纳米到720纳米的较长波长范围,同时在复杂的金属钛基体下,保持杰出的分辨率。这种较长的波长范围允许检测元素,如Li、Be、Cs 等。此外,广泛的波长范围还允许EOS 500选择更加合适的波长从而获得更好的准确性。

    布鲁克公司说,每种技术在测量某些元素和某些类型的合金时都有优点。HH-LIBS是非常适合于快速测定低原子序数元素,如碱金属和碱土金属,但未必适合 测量高原子序数元素,如难熔元素;另一方面,HH-XRF是非常适合于测量高原子序数元素,但可能不会非常适合于测量低原子序数元素。这使得HH- LIBS成为轻合金的优选技术,如镁,铝和钛的合金,而HH-XRF则是用于测量不锈钢和高温合金的优良技术。

手持式激光诱导击穿光谱仪(HH-LIBS)优势

HH-LIBS 技术

不受X-ray法规显示

优势测量 Li, Mg, Al, Si

快速识别标号Grade ID 和成分分析

准确Accurate 和可重复性Repeatable

独特灵活的电池设计

1节电池:减轻重量

2 节电池:连续工作12小时

“Hot-swap”热插拔功能

应用包含:

金属分类和估值

Fingerprint ID指纹识别

材料确认鉴定和标识 (PMI)

轻元素测量

Li, Be, Mg, Al, Si

定标校准:

基于可溯源的标样定标

Al, Ti 和 Mg 合金的准确测量

自动选择定标

测量模式: 含量Assay, 标号Grade ID, 指纹标识Fingerprint ID

容易识别、单独的铝牌号,如356, 357, 6061, 6063 和 1000

 EOS 软件特点:

直观的图标按钮

多级用户登录账号管理和用户识别

板载设备性能检测功能

板载突发模式平均功能

类型标准化

检测与标号识别基于先进的化学计量学算法

指纹光谱识别模式(Fingerprint spectral ID mode)

丰富的标号库:

Bruker EOS包含丰富的标号库(400+标号定义),涵盖各种国际标准。用户可选用的标号库: UNS, DIN 以及其它。 Bruker的Toolbox软件,允许用户:

修改已有合金标号定义

添加新的合金标号

上传、下载以及在设备之间共用标号库

使用方便:

EOS 是一款拥有 实验室级别硬件的手持式HH-LIBS 分析仪。但是,用户友好的界面设计令操作和结果展示更加直观明了。数据管理和传输非常容易使用。Data management and transfer are very easy  to use.

直观的用户界面—只需点选和测量( point and shoot)

只需很少的操作训练

各种场合下的样品识别

报告生产工具

轻–仅2.4kg,包括电池

 

EOS 硬件特点:

空气流光学保护技术Air-Flow Optics ShieldTM:

HH- LIBS 技术, 与其它光学技术一样,为了获得更准确的分析结果,需要让设备前端尽量靠近被测样品表面,它们之间的距离越短越好。激光烧蚀阶段产生的粉 尘就成为内部光学器件受污染的一个重要来源。随着时间的增加,粉尘在光学器件表面逐渐累积,逐步减弱通过的光。如果没有及时清理,将会导致精准度下降的问 题。Bruker的EOS具有独一无二的空气流光学保护技术“Air-Flow Optics Shield”,可以在光学器件表面形成一个持续的空气保护层,有效阻止粉尘堆积,从而让EOS保持非常理想的工作状态。

 光栅扫描  :

由于激光光斑非常小,这样所获得数据就仅限于非常微小的区域。EOS的光栅扫描技术可以让激光束扫描样品上较大的区域。这样就可以给出更具代表性样品检测结果。

 多探测器(多光谱)设计  :

Bruker 多探测器的设计使得EOS覆盖扩展波长范围从170纳米到720纳米,并保持优异的分辨率,尤其对复杂金属基体,如钛。广泛的波长范围允许检测的元素,如 Li,Be,Si等,这是一个单一的光谱仪系统无法覆盖的。此外,广泛的波长范围也让EOS可以利用替代测量波长,避免频谱重叠从而达到更好的精度。

 环境条件  :

EOS可以在几乎所有环境中现场操作,包括垃圾场这样的潮湿、多尘的环境。

 独特的激光技术 :

布 鲁克的HH-LIBS分析仪,EOS,使用专有的1064 nm激光低背景激光烧蚀原子发射光谱。传统的LIBS系统利用高能量,低重复频率的激光来生成等离子体的设计。这样的设计会导致一个高背景的“噪音”,特 别是在频谱的较低端部。布鲁克的1064 nm激光产生强的原子发射信号而不产生高背景辐射,因而不需要复杂的选通系统。利用这一设计,布鲁克的EOS可以很容易地在几秒内分析最具挑战性的元素, 如Si、Mg<0.1%浓度。

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标签:元素分析,手持光谱仪
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