三维表面测量仪
仪器简介： 仪器名称：ZETA电位分析仪 研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸......
用于测量α，β，γ，X辐射。加窗后，可以测量17KeV-3MeV的γ辐射，还可以区分α，β辐射。多种操作模式，9g氧化镥（50Bq/g,1.4nCi/g）刻度源。 探测器：GM计数管，窗直径44mm，厚度1.8-20mg/cm2测量范围（γ）：RadEye B20：0-2mSv/hRadEye B20-ER：0-100mSv/h测量范围（污染）：R......
RadEye AB100便携式α/β表面污染测量仪采用涂锌塑料闪烁体探测器，灵敏面积高达2500px2。多种操作模式，功耗低，NiMH电池可持续使用1000小时。 端窗：0.87 mg/cm2,覆铝薄膜功率：AM-241：36% （α）Co-60： 25% （β）Sr/Y-90：49% （β）γ......
用于测量α，β，γ，X辐射。加窗后，可以测量17KeV-3MeV的γ辐射，还可以区分α，β辐射。多种操作模式，9g氧化镥（50Bq/g,1.4nCi/g）刻度源。 探测器：GM计数管，窗直径44mm，厚度1.8-20mg/cm2测量范围（γ）：RadEye B20：0-2mSv/hRadEye B20-ER：0-100mSv/h测量范围（污染）：R......
主要特点：测量原理 ：在电化学双电流层的模型中，电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 ZETA 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离，由此得出实验的ZETA 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。ZETA 电位即可定义为固体表面的固定层......
主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 ......
研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 &n......
中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪以白光干涉技术原理，用于对各种精密器件表面进行纳米级测量。通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征......
中图仪器SuperViewW光学三维表面形貌测量仪是利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器，主要用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现......
SuperViewW白光干涉三维表面测量仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。SuperViewW白光干涉三维表面测量仪可测各......